现代材料测 试方法材专全内容资料.ppt

现代材料测试方法;绪 论 ;一、开设课程的作用、地位 ; 众所周知，材料的性能主要决定于其化学成分、矿物组成、宏观结构以及微观结构。其中物相组成，尤其是结晶矿物相组成和微观结构特征是在化学成分确定后对物质的性质起着关键性的作用。因为物相组成及显微结构是无机材料生产过程和生产工艺条件的直接记录，每个生产环节发生的变化均在物相组成及显微结构上有所体现。而材料制品的物相组成和显微结构特征，又直接影响甚至决定着制品的性能、质量、应用性状和效果。改变无机材料的化学组成、生产工艺过程和条件，就能获得具有不同物相组成和显微结构的制品，制品的技术性能，使用性能也就不同。为了获得具有新技术需要的使用性能的新型材料，可以通过物相组成和显微结构的设计，选用合适的原料及工艺配方，采用特定的生产过程及工艺条件，通过试验和研究而获得需要的产品。 ;课程的主要内容 ;主要参考书 ;晶体光学基础 一、 光在晶体中的传播 1.1 光的基本性质 光是具有一定波长的电磁波；具有波动性和微粒性； 微粒性——光是有无数作直线飞行的微粒组成（基于光的直线传播）。 波动性——光是球形波的形式传播的（反映了光运动形式）。 光电效应的发现，证明了光是一物质（即光是由具有极小能量的粒“光子”组成的）。而波动是质的运动形式。 光的波动形式——以正弦曲线运动，其传播方向与振动方向相互垂直。;;X射线衍射分析;引言;X射线物理基础;X射线的产生;X射线管;X射线谱;1.?????? 连续X射线谱 连续X射线谱是由某一短波限开始的一系列连续波长组成。它具有如下的规律和特点： （1）、当增加X射线管压时，各波长射线的相对强度一致增高，最大强度波长λm和短波限λ0变小。 （2）、当管压保持不变，增加管流时，各种波长的X射线相对强度一致增高， 但λm和λ0数值大小不变。 （3）、当改变阳极靶元素时，各种波长的相对强度随元素的原子序数的增加而增加。;2.???? 特征X射线谱 特征X射线具有特定的波长，且波长取决于阳极靶元素的原子序数，只有当管压超过某一特定值时才能产生特征X射线。???征X射线谱是叠加在连续X射线谱上的。 特征X射线的产生可以从原子结构的观点得到解释。 特征X射线的相对强度是由各能级间的跃迁几率决定的，另外还与跃迁前原来壳层上的电子数多少有关。 特征X射线的绝对强度随X射线管电压、管电流的增大而增大。 特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁;X射线与物质的相互作用 ;吸收限的存在实际上与光电效应有关。 利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。 如果选用适当的材料，使其K 吸收限波长λk正好位于所用的Kα与Kβ线的波长之间，则当将此材料制成薄片放入原X射线束中时，它对Kβ线及连续谱这些不利成分的吸收将很大，从而将它们大部分去掉，而对Kα线的吸收却很小，最后得到的就基本上是单色光了。 ;?;??X射线的探测与防护 ;X射线衍射原理 ;一、??? 劳厄方程式 为了求出X射线在晶体中的衍射方向，我们先求出一条行列对X射线的衍射所遵循的方程式，设有一条行列I-Iˊ： 图中之点皆代表晶体结构中相当的质点的中心，其结点间距为a，入射X射线S0与此行列的交角为?0，波长为?，假定在S1方向有衍射线，它与行列的交角为?h。 由相邻原子所射出的次生X射线在S1方向上有一段行程差（?），这段行程差可以这样求出：由A、B引AC、BD两线分别垂直于BC、AD，则： ?=AD-CB=ABcos?h-ABcos?0=a(cos?h-cos?0) 由以前可知：只有当行程差等于波长的整数倍时相邻原子所发射出的次生X射线才因干涉而加强，从而产生衍射线，也就是说衍射线的方向应符合以下方程式： ?=a(cos?h-cos?0)=h ? b(cos?k-cos?0)=k? c(cos?l-cos?0)=l? ;布拉格方程式;X射线衍射束的强度;X射线衍射方法;劳厄法和转晶法;粉晶法;二、德拜照相机 德拜照相机的组成部分包括圆筒外壳、试样架、前后光阑等，其直径一般有57.3mm和114.6mm。照相底片紧贴在圆筒外壳的内壁，并用压紧装置使底片固定不动。底片的安装方式，按圆筒底片开口处所在的位置不同，可分为正装法、反装法和不对称法，其中不对称法可以直接测算出圆筒底片的曲率半径，因此可以校正由于底片收缩、试样偏心以及相机半径不准确所产生的误差，所以该方法使用较多。 三、衍射花样的测量和计算 对于低角度区： 4?1/360o=S1/2T 亦即 ?1= 90oS1/2T S=2b-(a+b)=b-a 对于高角度区： （360o-4 ?2)/360o=S2/2T 亦即 ?2=90o-90oS2/2T S=(a’+b’)-2b’