非共线和频过程中的表面散射杂散光分析.pdfVIP

第26卷第1期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．26，No．1 ANDPARTICLEBEAMS POWERLASER Jan．，2014 2014年1月HIGH 非共线和频过程中的表面散射杂散光分析’ 袁索超1， 高立民1， 李东坚1， 赵娟宁1’2 2．ee国科学院大学，北京100039) (1．中国科学院西安光学精密机械研究所先进光学仪器室，西安710119； 摘要： 以三次谐波自相关测量原理为出发点，研究了其和频过程中BBO晶体的表面散射杂散光。详 细推导了由晶体表面散射引入的杂散光的具体表达式，定量分析了其对和频过程中输出信号的对比度的影响。 分析表明，杂散光强度与晶体表面粗糙度有一定的关系。晶体表面粗糙度为激光波长的1％时，引入的杂散光 噪声约为10～。表面越光滑，引入的噪声越小。 关键词：非共线和频； 杂散光；表面粗糙度 中图分类号：TN241 文献标志码： A 22W／cm2的量级并在继续向更 近年来，随着啁啾脉冲放大技术的出现，激光的峰值功率密度已经达到10 高的强度发展Ⅲ。伴随着激光强度增加的还有激光脉冲的对比度(主脉冲峰值强度与预脉冲峰值强度的比 值)。利用可饱和吸收体、等离子体镜、光参量啁啾脉冲放大(OPCPA)、交叉偏振波等技术，激光脉冲的对比度 可以被提高到1010以上陪5I。对如此高对比度的激光脉冲进行测量，要求测量系统具有与激光对比度相同量级 的测量动态范围。在诸多测量方法中，强度自相关法的测量动态范围最高，而尤以三阶强度自相关法的应用最 为普遍。强度自相关法利用晶体的非线性效应和脉冲空间延时作用将脉冲的时间信息转化为空间信息。通过 测量空间分布的强度相关信号来获取脉冲的时间波形和对比度信息。借助强度自相关法，目前对于重复频率 的激光脉冲，测量动态范围可以达到108以上(6。]。但是对于单次脉冲，测量动态范围不超过lo7[8。“。其原因 在于，单次脉冲测量需利用脉冲波前的空间交叉重叠来产生时间延迟信号，相比于采取扫描方法的重复脉冲测 量，其脉冲横向尺寸相对较大，交叉角度相对较小，更容易受光束传输过程中杂散光的影响。 为了提高单次脉冲测量的动态范围，需要对测量系统中的杂散光进行分析，避免脉冲经过光学元件引入的 杂散光淹没预脉冲信号。在以三次谐波产生为基础的强度自相关法中，根据频率的不同，杂散光可以大致分为 两个部分。第一部分为与入射光(基频光、二次谐波)同频率的杂散光。这部分杂散光相对容易被消除，如利用 非共线和频、狭缝、滤波片可以有效地将这部分杂散光隔离。还可以利用入射光与出射光偏振态的不同，对杂 散光进行隔离。或者选择响应光谱范围包含出射光波段而不包含入射光波段的探测器，也可有效屏蔽这部分 杂散光噪声。第二部分为与出射光(三次谐波)同频率的杂散光。这些杂散光与出射光信号同频率，同偏振，还 同方向，极不容易被滤除，是限制测量系统动态范围的最主要因素。第二部分杂散光主要来源于离探测器较近 的和频晶体。 目前超短脉冲对比度测量实验普遍采用偏硼酸钡(BBO)晶体，为了测量高对比度脉冲，一般将待测脉冲分 为两束，其中一束经倍频后与另一束通过非共线和频作用产生三次谐波信号。本文针对和频过程中由BBO晶 体表面散射引人的三次谐波杂散光(fa二部分杂散光)进行了理论分析，并给出了具体的推导公式。 l 三次谐波自相关理论 在小信号近似下，由基频光和二次谐波和频作用产生的三次谐波的强度可以表示为[1胡 ，3一AIlJ2sinc2(AkL／2) (1) 式中：A为与晶体参数有关的常系数；J，，，：分别为基频光和二次谐波的光强；Ak表示相位失配；L为晶体厚 度。在相位匹配条件下，Ak一0，此时 J。一AJ，，：