集成电路的容软错误技术研究-微电子学与固体电子学专业论文.docxVIP

万方数据 万方数据 合 肥 工 业 大 学 专业硕士学位论文 集成电路的容软错误技术研究 作者姓名： 张丽娜 指导教师： 梁华国 教授 吴坚 高工 学科专业： 计算机技术 研究方向： 高可靠性嵌入式系统 2014 年 3 月 A Dissertation Submitted for the Degree of Master The Research on Soft Error Tolerance for Integrated Circuit By Zhang Lina Hefei University of Technology Hefei, Anhui, P.R.China March, 2014 万方数据 万方数据 46 致 致 谢 时光如梭，转眼间毕业在即，心中是无尽的难舍与眷恋。回想过去的两年半 的研究生旅途，点点滴滴萦绕脑海，这也是我人生中最重要一段旅途，能让我受 益一生。 首先诚挚的感谢我的导师梁华国教授对我的细心指导，梁老师渊博的学识和 严谨的治学态度令我十分敬佩，是我以后学习和工作的榜样。老师对科研的严谨 认真的态度深深的影响着我们，让我们不断学习、探索和发现新的问题，是我们 科研道路上的指路明灯。梁老师又非常平易近人、和蔼可亲，谢谢对我平时生活 中的帮助和悉心关怀，让我感觉实验室如此温馨。马上就要离开这个温馨的大家 庭了，我会将实验室那种对学术上严谨、认真的态度带到以后的工作中去，也会 将实验室那些美好的回忆珍藏在心底，谢谢梁老师让我的研究生生涯如此充实。 此外还要非常感谢黄正峰老师，谢谢黄老师在科研上对我的指导和意见，让 我能顺利的完成论文。黄老师为整个实验室倾尽心力，在科研上为我们指引方向 和学习中的难题，为实验室一代又一代知识的传承做了很多工作。学习之余，也 会组织实验室的各种活动，大大的增加了实验室的凝聚力，谢谢黄老师这样无私 的付出。 感谢本实验室欧阳一鸣老师、易茂祥老师、王伟老师、陈田老师、丁贤庆老 师、刘军老师和许达文老师在科研上对我的指导和帮助。感谢徐辉博士，谢谢您 在这两年半的研究生阶段对我的帮助，同时也要感谢常郝博士、闫爱斌博士、李 扬博士、许晓琳博士和方祥圣博士，正是因为你们的存在，实验室才具有浓厚的 科研气氛。感谢 2010 级的师兄师姐：李志杰、汪静、史冬霞、刘彦斌、王文川、 崔文杰、张睿鑫，谢谢你们对我在学习以及生活中的帮助。 感谢和我一同奋斗的同学们，邢璐、陈凡、韩健、陶志勇、王旭明、方文庆、 王镜淞、张曦和谢云磊，谢谢你们陪我度过这难忘的时光；感谢余天送、彭小飞、 申思远、吴悠然、谭龙生、李军、张鹰等 2012 级和 2013 级的师弟师妹门，你们 的存在为我的研究生生活增添了不少色彩。 感谢我的父母，养育之恩本就无以为报，你们还省吃俭用供我学习到研究生， 谢谢这么多年你们默默付出。岁月在你们身上留下了太多的痕迹，我满是心酸。 只希望你们身体健康，天天开心。 最后，非常感谢在百忙中来参加我们论文答辩的各位专家老师。 作者：张丽娜 2014 年 2 月 28 日 I 摘要 摘 要 随着 VLSI 技术的飞速发展，电子系统更容易受到粒子的干扰。晶体管特征 尺寸的不断减小，电路的电压、节点电容变得越来越小，因此也降低了粒子辐射 所需要高能量粒子的能量阈值，导致了软错误率(Soft Error Rate, SER)大幅度提高。 尽管国内外提出了很多电路加固技术，但通常会带来较大的面积开销。因此设计 一个良好的电路加固结构或者加固策略变得尤为重要。针对日益严重的电路软错 误问题，本文主要进行了以下的工作： （1）掌握了集成电路软错误相关背景知识，以及引起软错误的一些诱因。针 对引起软错误的重要原因，单粒子瞬 态(Single Event Transient, SET)和单粒子翻 转（Single Event Upset, SEU），对近几年国内外的一些研究成果进行了分析和实 验，并对不同的解决方法进行分类和比较。 （2）提出了一种基于二分查找的电路选择性加固方案。由于现有的电路加固 技术通常会带来较大的面积开销，为了平衡电路的面积开销和可靠性，设计了一 种新的电路加固平衡指标 AF，并基于二分查找算法，将电路中的敏感寄存器替换 为三模冗余寄存器来有效容忍电路中的软错误。该方案使得电路的面积开销和可 靠性达到了一个平衡，二分查找替换算法简便快捷，能够快速的获得 AF 的最值。 本方案平均需 138.56%的面积开销，电路平均故障间隔时间 MTBF 平均增加为原 来的 181.37%，提高了电路的可靠性。与其它方案相比，在达到相同的 MTBF 时， 该方案能获得较小的面积开销和 AF 值，实现了面积开销和可靠性之间的平衡。 （3）为了减轻辐射环境中电路受单粒子瞬态