高密度电阻率法在敦煌莫高窟水汽调查中初步应用.pdfVIP

高密度电阻率法在敦煌莫高窟水汽调查中初步应用.pdf

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 2008 年第 6 期 敦煌研究 N O62008 ( )   总第 112 期 DU N HU AN G  R ESEA RC H TO TAL  112 高密度电阻率法在敦煌莫高窟 水汽调查中的初步应用 1 ,2 ,3 1 ,2 ,3 1 ,2 ,3 4 4 4 郭青林  王旭东  李最雄  小泉圭吾  谷本亲伯  舛屋直 ( ( ) 1 西部灾害与环境力学教育部重点实验室 兰州大学 ,  甘肃  兰州  730000 ; ( ) 2 古代壁画保护国家文物局重点科研基地 敦煌研究院 ,  甘肃  敦煌  736200 ; 3 敦煌研究院保护研究所 ,  甘肃  敦煌  736200 ;  4 日本大阪大学工学院 ,  日本  大阪)   内容摘要 :敦煌莫高窟壁画受自身材质和自然环境等的影响 ,产生起甲、酥碱 、空鼓 、壁画大面积脱落等多种病害 ,多 项研究已经证明 ,这些病害主要是由水盐运移导致的 ,而水汽是激活和导致盐分运移的主要因素 。我们使用高密度电阻 ( ) 率法对石窟围岩状况 、莫高窟窟前林带区和崖顶降水入渗前后进行了现场测定 ,结果表明: 1 莫高窟后部崖体从表面到 深度 100m 的地层不存在 自由水 ; (2) 莫高窟窟前林带灌溉水通过表层堆积物向崖面渗透 ,使洞窟岩体内的水汽含量增 高 ,有激活盐分的可能 ; (3) 少量的降水依然能以较慢的速度通过渗透性较好的地层或崖体裂隙渗透到洞窟的顶部 ,激活 岩体和地仗内的盐分 ,导致壁画病害的发生 。 关键词 :莫高窟 ;高密度电阻率法 ;水汽调查 中图分类号 : K8543  文献标识码 :A  文章编号 :10004 106 (2008) 可能被激活 , 向表面运移和富集 ,诱发壁画病害的 一  前  言 产生[7 ] 。可见水盐运移是导致壁画产生病害的主 要因素 。调查和研究敦煌莫高窟水环境对分析和 敦煌莫高窟开凿在钙泥质或泥质弱胶结的砂 防治莫高窟壁画病害机理均有十分重要的理论意 砾岩体上 ,受石窟岩体 、壁画制作材质等自身较脆 义 。鉴于文物的特殊性 ,调查中应尽量采用无损 弱的性质和自然环境的影响 ,保存了 1000 多年的 探测的方法 ,因此 ,尝试采用高密度电阻率法对莫 壁画产生了起甲、酥碱 、空鼓 、壁画大面积脱落 、霉 高窟岩体内水汽展开调查 ,对于石窟水汽运移具 变等多种病害[ 1 ] 。1995 年 ,张明泉等从岩土工程 有十分重要的意义 。 的角度 ,研究了莫高窟地仗层物质成分及微结构 特征 ,指出水盐运移是导致地仗层病害的主要原 二  高密度电阻率法简介 因[2 - 3 ] 。郭宏等对莫高窟壁画酥碱机理进行了更 为深入的研究[4 - 6 ] 。据陈港泉等室内模拟试验研 高密度电阻率法在工程勘察和水汽等研究中 究结果表明 ,当达到一定相对湿度条件时 ,盐分就

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