第八章纳米材料.ppt

第八章纳米材料 第一节 纳米材料及应用进展* 第二节 纳米材料的制备* 第三节 纳米结构的检测技术* 第四节 纳米材料的应用* 第一节纳米科技及纳米材料应用进展 纳米（nanometer）是一个长度单位，简写为nm。 1nm=10-3μm=10-6mm=10-9m 1nm等于10个氢原子一个挨一个排起来的长度。纳米是一个极小达到尺寸，但它又代表人们认识上的一个新层次，从微米进入到纳米。 第三节 纳米结构的检测技术 针尖同样品面间垂直方向的变化距离导致针尖同样品面间原子间力的变化，变化的原子间力引起悬臂梁在垂直方向发生振动，因此，利用激光束的偏转可检测出针尖同样品面间变化的原子间力。将激光束的偏转信号输入计算机中进行处理，可得到样品面的表面信息。在样品面下方装有压电材料，用以接受计算机输出的反馈信号，调节样品面的高度，以达到保护探针针尖的目的。 第三节 纳米结构的检测技术 8.3.2 其他类似的检测仪器 1.激光检测原子力显微镜（AFM） 激光检测AFM利用激光束的偏转来检测微悬臂的运动。因为激光束能量高，且具有单色性，因此能够提高仪器的可靠性和稳定性，避免因隧道污染所产生的噪音。同时，还能提高原子间作用力检测的灵敏度，大大减小微悬臂对样品的影响，扩大仪器的适用的范围，之其更加适合于有机分子的研究。 第三节 纳米结构的检测技术 2.低温扫描隧道显微镜（STM） 许多材料的某些物理特性只有在低温下（如液氮，液氦温区）才能表现出来，在室温下很难观测到或者根本观察不到。因此，为了开展对材料的低温性质研究，首先要研究低温下工作的STM（简称低温STM）。 3.真空扫描隧道显微镜（STM） STM技术获得的信息来自表面单层原子，因而该技术对表面清洁度非常敏感。有些样品表面易被杂质吸附，有些还呈氧化态，因此有必要建立一套加工工艺，能够获得清洁而真实的样品表面，并且在实验过程中能保持样品的这种状态，以便在超高真空环境下进行STM 的工作。这种STM简称真空STM。 第三节 纳米结构的检测技术 4.导弹电子发射显微镜（BEEM） 半导体材料的发现和使用导致人们需要对其表面和界面性质进行全面了解。常规的表面分析技术不能用来研究表面下界面的结构和电子性质。BEEM的诞生解决了这一问题，它是一种能直接对表面下界面电子性质进行谱学研究，并能以高分辨率成像的实验技术。 第三节 纳米结构的检测技术 8.3.3 纳米结构检测技术的应用研究 1.STM技术的应用研究 扫描探测显微镜不仅是人们认识纳米世界的工具，还可以用来制造纳米结构，改造世界。例如，借助它能够通过一个超级尖端来施加电压，准确地移动分子或原子，把不同的分子彼此连接起来（这些分子在自然状态下本来可能永远也不能相结合），构筑出全新的物质。在20世纪90年代，中科院白春礼等人利用在STM针尖与样品间加电压脉冲的办法成功地在石墨表面上刻出“中国”、“SAS”等中英文字及各种图案，所刻线条宽度仅为10nm，由此可见STM作为一种工具在表面加工及大规模集成电路等领域中具有广泛的应用前景。 第三节 纳米结构的检测技术 图8-5所示为超高真空中利用扫描隧道显微镜技术，在硅单晶体表面（111）面上移动Si原子而形成“中国”二字字样。 图8-5 超高真空中, 用STM技术，移动Si（111）面上的原子形成“中国” 字样 图8-6表示原子操作过程。左图为单个Xe原子静置在Ni表面上的情景，右图为探针“拾”起该原子的情景。此图分别显示出相应的两个状态的STM图像。 第三节 纳米结构的检测技术 图8-6原子操作过程的STM象 第三节 纳米结构的检测技术 2.AFM技术的应用研究 利用AFM针尖与样品之间的相互作用力可以搬动样品表面的原子分子，实现原子分子操纵，而且可以利用此作用力改变样品的结构，从而对其性质进行调制。 AFM是依靠尖端曲率半径和小的微悬臂针尖接触在表面上进行成像，所得到的图像是针尖与样品真实形貌卷积后的结果，如图8-7所示，实线代表样品的真实形貌，虚线就是针尖扫描所得到的表观图像，二者之间的差别在于针尖与样真实触点和表观接触点随针尖移动的函数变化关系。针尖效应不仅会将小的结构放大，而且还会造成成像的不真实，特别是在比较陡峭的突起或沟槽处。 第三节 纳米结构的检测技术 图8-7 AFM针尖成像放大效应示意图 第三节 纳米结构的检测技术 纳米粉体材料应尽量以单层或亚单层形式分散并固定在基片上，应该注意以下3点： ①选择适合的溶剂和分散剂将粉体材料制成稀的溶胶，必要时采用超分散以减小纳米粒子的聚集，以便均匀地分散在基片上； ②根据纳米粒子的亲疏水特性、表面化学特性等选择合适的