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中文摘要集成电路测试成本在IC的最终出售的产品中是没有体现附加值的,但综观整个
中文摘要
集成电路测试成本在IC的最终出售的产品中是没有体现附加值的,但综观整个 封装和测试成本,其中测试成本要占到整个成本的600/,.所以各家半导体公司为提高 竞争力,降低成本狠抓设备利用率和降低测试时间.其中提高利用率的有效方法之一 就是要保证订单要满产能,然而每个产品的生命周期是不一样的,少则一年两年,多则 十年八年,甚至二十年.这就造成了待测Ic和测试系统不能平衡,某些测试系统产能不 够,而另外一些测试系统不能充分利用,所以我们要转换产品的测试系统来达到平衡 测试机产能,从而提高测试机利用率.
通过对LTX77(TS80)和LTX硬件和软件的分析,并对FREESCALE现有的测试 系统进行评估,最终选定TERADYNE公司的A585和iFlex测试系统作为目标测试系 统,进行了两个芯片MC341 18和PCU03ABS的跨平台转换Ic测试系统(MC341 18从 LTX77转到A585测试平台和PCU03从LTX转到iFlex测试平台),包括硬件和软件的 转换,设计测试板(使用Protel重新设计原理图和PCB),编写测试程序(使用image语言 和IGXL编写测试程序),成功的对各种测试平台进行评估,分析与研究,完成了 MC341 18从LTX77转到A585测试平台和Pcu03从LTX转到iFlex测试平台,如果 最终能得到客户和总部的批准,可为公司节约3.4台LTX测试机,为公司节省200万美 元,充分显示了跨平台转换lC测试系统在半导体测试行业的巨大实用价值。
关键字:测试机;模数转换器;IG—XL软件;Image Test语言
ABSTRACTThe
ABSTRACT
The COSt of IC teSt have not add additional value in the final product,but it’S will be 60%ofoverall packaging and test cost.Most of Semiconductor manufacturer try their best to improve the tester utilization and minimize the test time in order to save the COst and beat the COmpetitors.The most effective method to improve the utilization is to make sale the order can meet the tester utilization,but the life cycle of
each IC is different,from 1 to 10 year,even 20 years,this knid of unbalanced order will induce some testers idle or over capacity.So some products need to be converted teSt platform to balance the tester capacity and improve the tester utilization.
Base on the software and hardware analysis of LTX77 and LTX teSter system and evaluation of Freescale current teSter platforms,Teradyne A585 and iFlex tester platforms ale chosed as the target tester platforms,also 2 devices(PCU03:LTX77
-A585MC34118:LTX-iFlex)ale chosed勰target devices for COnversion.This
paper is focus on the conversion of tester hardware and software,teSt load board redesign(1edesign the schematics and PCB by Protel)and teSt program redesign.We have successfully finished evaluation,analysis and study and conver 2 devices tO new tester platform..If the new test
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