常用信息检测系统(精).pptVIP

第五章 常用信息检测系统 莫尔条纹具有如下特点： 1. 放大作用 用B（mm）表示莫尔条纹的宽度，P(mm)表示栅距，θ(rad)为光栅线纹之间的夹角， 莫尔条纹宽度B与θ角成反比，θ越小，放大倍数越大。 2. 均化误差作用 莫尔条纹是由光栅的大量刻线共同组成，例如，200条/mm的光栅，10mm宽的光栅就由2000条线纹组成，这样栅距之间的固有相邻误差就被平均化了，消除了栅距之间不均匀造成的误差。 3. 莫尔条纹的移动与栅距的移动成比例 当光栅尺移动一个栅距P 时，莫尔条纹也刚好移动了一个条纹宽度B。只要通过光电元件测出莫尔条纹的数目，就可知道光栅移动了多少个栅距，工作台移动的距离可以计算出来。 2．光电直接探测在遥感方面的应用 3. 光电直接探测在监测环境污染 方面的应用 5.2 光外差探测系统 5.3 光纤传感器检测系统 二、光纤的特性 四、光调制与解调技术 光调制就是将一个携带信息的信号叠加到载波光波上,完成这一过程的器件称为调制器。 调制器能使载波光波的参数随外加信号变化而变化，这些参数包括光波的振幅、位相、频率、偏振、波长等。承载信息的调制光波在光纤中传输，再由光探测器系统解调，然后检测出所需要的信息。  1．强度调制与解调 原 理 利用光在微弯光纤中强度的衰减原理，将光纤夹在两块具周期性波纹的微弯析构成的变形器中构成调制器。从波导理论的观点来看，当光纤发生弯曲时，传输光会有一部分泄漏到包层中去，这种泄漏是光纤内发生模式耦合的结果，这些耦合模变为辐射模，造成传播光能量的损耗。 纤芯中的光向包层逸出的原因从几何光学来说是由于全反射条件的破坏造成的，从波导理论来说则是光纤的弯曲引起了各种传导模式的耦合，则形成耦合模式被送入包层中去产生辐射模。 微 弯 调 制 示 意 图 实 际 测 量 框 图 利用这种调制技术可以直接测量位移的变化量(变形器上的变形板位移的大小决定光强的衰减程度),而间接测量的量则可包括温度，压力，振动，应变等。 脱 模 器 的 作 用 这里脱模器的作用是在进入探测器之前消除掉进入包层中的光以保证只有纤芯中的光才能传到变形器和探测器。 其方法是在几厘米长的包层外边表面上刷上黑漆，这就可以以乎完全吸收掉传入包层中的光（或者剥去外包层置于折射率匹配的小盒中）。 其它类型 被测物体移动引起光纤变形， 曲率半径随之改变，引起辐 射模。 其 它 类 型 将光纤绕成多圈螺旋管状，增加变形长度以提高灵 敏 度。 微 弯 型 水 听 器 多模光纤绕于带有螺纹的铝管螺纹谷内不会发生变形，而通过纵向槽的那部分光纤将由于外部压力而变形，如果这种压来来自于声波，则可依此原理制成水听器。 光 强 度 的 外 调 制 技 术 上述微弯调制技术属于内调制，属于功能性调制技术，它是利用光纤本身特性的改变来实现光调制的。 所谓外调制技术，是指调制环节发生在光纤以前的部分，光纤本身的性质并不改变，它只起到传光的作用。此时的光纤分为两部分，即输入光纤和输出光纤，或发送光纤和接收光纤，由于接收光强与接收光纤的端面的法向方面有关，于是接收光纤的端面可以视为接收信号。 反射型光强外调制传感器 a、原理 由输入光纤出射的光投射到反射面上，其反射光的一部分进入输出光纤，进入多少与反射面位置有关。 定 量 分 析 反射型光强外调制传感器示意图 检 测 范 围 因此最大检测范围是 即检测位移的范围在 和 之间。 遮光型光强外调制技术 上面所言为反射式，除此之外还有遮光式，一种办法是将发射光纤和接收光纤对准，光强调制信号加在移动的遮光板上；另一种方法是直接移动接收光纤。这两种方式都是使接收光纤只能收到发送光纤发出的部分光，从而实现光调制。 遮光型光强外调制技术 用这种办法可以测量位移、压力、温度等物理量，这些物理量的变化都可使光强减弱由于闸式要使两光纤距离大一些，因此光