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第10章 抛光工艺
主讲:
主要内容
10.1 抛光的机理
10.2 光圈
10.3 古典法抛光工艺
10.4 高速抛光工艺
10.5 平面抛光工艺
10.6 高精度球面零件的抛光工艺
10.7 高精度平面零件的抛光工艺
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教学要求
1、了解抛光的机理,掌握抛光的目的及方法
2、掌握光圈的识别与度量
3、掌握两种方法的加工原理、工艺过程及问题的分析处理;
4、了解几种高速抛光的设备及结构参数;高精度零件抛光的工艺特点。
5、了解加工设备及工装夹具;
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10.1 抛光机理
10.1.1 抛光
是精磨以后的一道主要工序。
一、抛光的目的
1、去除精磨的破坏层,达到规定的表面疵病(B);
2、精修面形,达到规定图纸要求的面形精度(N、△N);
3、用于控制高精度尺寸公差(平行差、角度误差等)
二、抛光原理
抛光剂加在抛光模与零件表面之间(也有加在塑料膜内),借助二者相对运动,使零件逐渐抛光成具有一定的面形精度和质量的光学表面。
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三、抛光的本质(1)
1、纯机械学说
抛光过程看作研磨过程的继续,尖硬的磨料颗粒对玻璃表面进行微小切削作用是基本的,其依据:
抛光表面有起伏现象;
一定条件下磨料也能作抛光剂;
玻璃重量有明显减轻;
抛光剂颗粒直径在一定范围内,效率与颗粒大小成直线关系;
一定条件下,抛光效率与速度、压力成直线或近似直线关系
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三、抛光的本质(2)
2、化学学说
抛光过程是玻璃表面、抛光剂、抛光模和水作用下,发生错综复杂的化学过程。其依据 P135
3、流变学说
抛光过程是由于摩擦热引起表面热塑(熔)性流动和化学作用引起分子流动,从而形成分子重新分布的过程。
其依据:P135
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三、抛光的本质(4)
4、机械、物理、化学学说
抛光过程是一个具有机械的化学的和物理化学作用的综合过程,但机械作用是基本的,化学作用是重要的,流变现象是存在的。
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10.1.2 各工艺因素对抛光的影响
一、抛光剂
1、种类:
白粉:硬度高,粒度大,效率高,但光洁度差。
红粉:
2、供给量:
适中量。过小粉粒少,降低效率;过大水量过多,减小化学作用,降低效率。
3、浓度:
液固比(白1:5;红:1:4~8)。
4、PH值:5.5~6.5下
添加剂:
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10.1.2 各工艺因素对抛光的影响(2)
二、抛光压力和速度:
在一定限度内与抛光速率成线性关系。
三、温度、湿度
;60~70%
四、抛光模层材料
不同的抛光模层材料其抛光效率是不同的 .
五、精磨质量
足够精确的表面几何形状和适当的N低凹值;表面结构应凸凹层深些,裂纹层小些最好。
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§ 10.2 光 圈
光学表面的面形偏差:被检光学表面相对于参考光学表面的偏离程度。
抛光质量:面形偏差和表面疵病B
检验抛光表面的面形偏差的方法:
干涉图样法:
接触法:样板检验法
非接触法:干涉仪法
阴影法:
样板检验是光学零件制造中使用最广泛、最简便的一种精密检测方法。
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10.2.1 样板检验原理
在光学加工中,光学零件的面形偏差是通过样板的工作(参考)表面与被检表面相接触时,当两者的面形不一致就形成一楔形空气层,当波长为λ的光射到空气层上便形成等厚干涉条纹。此干涉条纹称为光圈。如图示
由于误差是在圆形检验范
围内,通过观察到的光圈
数目、形状、变化和颜色
来确定且用光圈表示,故
样板检验也称“光圈检验”。
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10.2.1 样板检验原理(2)
一、光圈数N与空气层厚度△h的关系:
二、光圈数N与曲率半径偏差△R的关系:
三、光圈半径rk与波长λ的关系:
对于同一级干涉环,波长λ越长,干涉条纹离接触点愈远。
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8.2.2 高低光圈的判别
根据两表面的接触情况可分为:
高光圈:零件表面与样板中心接触,属正偏差
低光圈:零件表面与样板边缘接触,属负偏差
一、微压法:
1、周边加压法:
条纹从边缘向中心移动为低N,反之亦反。
2、侧压法:
条纹弯曲的凹向背向着力点为低光圈;
条纹弯曲的凹向朝向加压点为高光圈。
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8.2.2 高低光圈的判别(2)
二、色序法:
白光照射下,从中心到边缘当色序“蓝-红-黄”时为低光圈,当色序为“黄-红-蓝”时为高光圈。
三、移眼观察法:
眼由上向下再向外移动,光圈向里收缩为低光圈;
反之则为高光圈。
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8.2.2 高低光圈的判别(3)
四、局部偏差: 和
像散光圈:两个相互垂直方向上光圈数N不等的最大代数差
中心低:中心部位凹陷
中心高:中心部位凸起
塌边:边缘部位塌陷
翘边:边缘部位翘起
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高低光圈识别图
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8.2.3 光圈的度量
一、半径偏差N:
如图所示
图a为N1:
图b为N1:
N=0:呈灰白色
利用颜色-间隔对照B
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