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苏州中科集成电路设计中心 Suzhou CAS IC Design Center 第五届中国测试学术会议邀请函 由中国计算机学会、苏州工业园区管理委员会主办，苏州中科集成电路设计中心、东南大学、苏州市软件测评中心、中科院计算所、苏州市集成电路行业协会承办的第五届中国测试学术会议（CTC’08）定于2008年5月21~23日在苏州市工业园区国际科技园召开。 本届会议主题为“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”，将交流、讨论数字电路测试和DFT，AMS电路测试和DFT，软件测试和测试平台，设计验证和模拟，容错技术和信息安全，ATE和测试应用等方面的技术。 为方便广大本地企业和科研院校能和与会专家就各类所关心的问题进行互动讨论，本次会议特别安排了报告会及专题讨论会为本地企业免费开放。欢迎感兴趣的企业和个人报名参加。名额有限，请速报名。 一、可参加的报告会主题及时间场次。 5月22日：（正式会议Keynote Speech） Time Code Area Lectuer Company 地点 9:00~ 12:00 K1 K K3 设计验证和测试 软件验证和测试 IC测试 Tim Cheng 何积丰 温晓青 University of California at Santa Barba 华东师范大学 日本九州工业大学 科技广场4楼报告厅 5月21日：（专题讲座日Tutorial day） Time Code Area Lectuer Company 地点 9:00~ 12:00 TA1 IC测试 李晓维 中科院计算所 科技广场3楼多功能厅 TB1-1 TB1-2 软件测试 李傲雷 李宣东 IBM（上海） 南京大学 科技广场3楼2号会议室 13:30~ 16:30 TA2 AMS测试 夏 曙 Texas Instruments at Dallas 科技广场3楼多功能厅 TB2 IC设计验证 边计年 清华大学 科技广场3楼2号会议室 备注：同一时间段的报告会将同时举行。 5月23日：（专题分组讨论会 Panel Session） Time Code Area Moderator Company 地点 08:30~10:10 10:20~12:00 14:00~15:40 15:50~17:30 P1 P2 P3 P4 设计和测试 IC工程测试和生产测试 软件测试 AMS电路测试 李华伟 时万春 宫云战 夏 曙 中国科学院计算技术研究所 集成电路测试技术中心 北京邮电大学 Texas Instruments at Dallas 科技广场3楼多功能厅 注：为方便参加会议的代表中午就餐，会务组将为免费为每位企业代表准备一份工作午餐，餐券将在每天上午第一场会议签到时发放。 二、会议主要参加人物及内容简介 5.22 正式会议（Keynote Speech） K1： Design for Reliability and Robustness Abstract: Future hardware systems must have sufficient robustness to cope with failures resulting from the increasing variability and reliability concerns. This requirement not only applies to high-end systems but also becomes a necessity for consumer electronics. Failures due to design bugs, manufacturing defects and variations, and environmental noise are becoming facts to be dealt with, not just problems to be solved. Verification, test, and fault tolerance technologies all play critical roles in designing robust and reliably systems. Built-in redundancy to tolerate errors or built-in self-recovery from errors will become necessary to ensure sufficient system yield and reliability. Designing a robust system with spares and self-reconfiguration capabi