统计过程控制（Statistical Process Control ）.pdf

统计过程控制 （Statistical Process Control ） S P C 1 课程目标 • 到本课程结束时，参加者应能识别： 了解统计基本概念 了解控制图原理 计量型与计数型控制图的作法与适用范围 这些图何时应用最合适 Ppk 和 Cpk 之间的区别以及了解 如何计算这些指数。 2 一、SPC发展史 常态分布 管制图(%) Ca ／Cp ／Cpk (ppm) 6 σ 1850 1924 1960 1980 高斯 W.A Shewhart 日本 Motorola 美国 1992 TI 1994 Allied Signal 95 GE 98 Sony 一、SPC发展史 美国W. A. Shewhart博士於1924年发明管制 图，开启了统计品管的新时代 战后经济遭受严重破坏的日本在1950年通过休哈特 战后经济遭受严重破坏的日本在1950年通过休哈特 早期的一个同事戴明 (W. Ed- wards Deming)博士，将SPC 早期的一个同事戴明 (W. Ed- wards Deming)博士，将SPC 的概念引入日本。从1950～1980年，经过30年的努力，日 的概念引入日本。从1950～1980年，经过30年的努力，日 本跃居世界质量与生产率的领先地位。美国著名质量管理 本跃居世界质量与生产率的领先地位。美国著名质量管理 专家伯格 (Roger W. Berger)教授指出，日本成功的基石之 专家伯格 (Roger W. Berger)教授指出，日本成功的基石之 一就是SPC。 一就是SPC。 4 一、SPC发展史 在日本强有力的竞争之下，从80年代起，SPC在 西方工业国家复兴，并列为高科技之一。 例如，加 拿大钢铁公司(STELCO)在1988年列出的该公司七大 高科技方向如下：(1)连铸，(2) 炉外精炼钢包冶金 站，(3) 真空除气，(4) 电镀钵流水线，(5) 电子 测量，(6) 高级电子计算机，(7) SPC