X射线衍射仪原理和应用技术.ppt

织构的分析方法 描绘织构空间取向的极射赤面投影图：极图、反极图 极图表示出试样内各晶粒某一(hkl)晶面极点在外观坐标系里的取向分布； 反极图表示晶粒的某一特定外观方向相对于晶体坐标系的取向分布； 取向分布函数(ODF)法：将试样的轧面法向、轧向和横向三位一体地在三维晶体学取向空间表示出来 高温附件 高温条件下的试样物相结构 直热式加热，升降温速度可达 200 ℃/min ； 温度最高可达1600 ℃ ； 样品平放，安全性能好； 高温测试样品要求 非液态（原则上）最好为粉末样 高温下不与加热片（铂铑合金）发生反应 加热后不产生腐蚀性气体 薄膜附件 衍射仪上加装一掠射附件 （0.35°平行光狭缝） 膜及多层膜的物相分析 入射光束以较低掠射角入射， 可使薄膜衍射信息增大， 而衬底反射最小。 可实现功能 物相分析（物相鉴定与定量分析，结晶度测量） 晶体结构分析（晶粒大小、点阵参数测定、相结构等） 织构和残余应力分析 高温条件下物相变化分析 薄膜分析（薄膜的物相鉴定和定量分析） 应用软件功能 Diffrac Plus Measurement Package系统控制管理与数据采集软件； Diffrac Plus EVA 基本数据处理软件； Diffrac Plus Search 自动物相检索软件，除常规化学元素,I/d值三判据作物相自动检索方法外，本物相检索方法利用扣除背底全谱数据作检索，考虑到测量中所得到的全部信息，包括峰形（峰宽、峰不对称性、肩峰）以及弱峰等。可有效地检索多相样品中重叠峰、择优取向、微量相中的物相； 应用软件功能 Diffrac plus Dquant(包括在EVA软件中) 用作物相的定量分析，包括多种常规定量分析方法，如内标法、外标法、直接对比法，并可编程适用多种相定量分析，如铝电解槽分析等； Diffrac Plus TOPAS P 对X射线衍射线形进行函数模拟和基本参数拟合，后者从仪器几何参数和试样性质拟合线形，有确切物理意义，为无标样晶粒尺寸和微观应变测定提供解决办法，可用作点阵参数精修和结晶度测定等。 应用软件功能 Diffrac plus STRESS 用作试样和实物构件残余应力测定，含有Omega模式和Psi模式，可给出选定方向的应力、切应力和应力张量。 Diffrac plus ODF 取向分布函数(ODF)织构定量分析软件是在DiffracPlus TEXEDIT数据处理基础上,由完整极图或不完整极图数据,用球谐级数展开法做ODF分析,计算了奇数项,载尾项可任选,用Bunge符号绘出恒Phi1、Phi2和Φ的ODF截面图,可回算绘制任意{hkl}完整极图和反极图。 X射线衍射实验测试 制样要求： 粉末或块状样均可，表面平整 粉末颗粒在5～15μm最佳 块状样受夹方向50mm，平行射线出射方向(20mm且60mm） 计数测量方法与测量参