现代质量工程 教学课件 ppt 作者 卢碧红 第7章 质量检验与供应商质量管理 to出版社.PPTVIP

7.3.2 测量系统分析的基本流程 2．测量系统分析的程序 （1）MSA计划的制定。内容包括: 1）确定需分析的测量系统； 2）确定用于分析的待测参数/尺寸或质量特性； 3）确定分析方法，如计量型测量系统可采用均值极差法，计数型测量系统可采用小样法等。 4）确定测试环境，尽可能与测量系统使用环境一致。 7.3.2 测量系统分析的基本流程 2．测量系统分析的程序 （2）量具的准备： 1）应针对具体尺寸/特性选择控制计划指定的量具； 2）确保要分析的量具是经校准合格的； 3）仪器的分辨率一般小于被测参数允许差的1/10。 7.3.2 测量系统分析的基本流程 2．测量系统分析的程序 （3）测试操作人员和分析人员的选择： 1）测量时应尽量采用盲测，以排除人为的干扰。 2）盲测是指在实际测量环境下，在操作者事先不知正在对该测量系统进行评定的条件下，获得的测量结果。实际操作中大多只能实现部分盲测； 7.3.2 测量系统分析的基本流程 2．测量系统分析的程序 3）测试人员和分析人员不能是同一个人，测试操作人员实施测量并读数，分析人员作记录并完成随后的分析工作； 4）应优先选择实际实施测试的操作工/检验员； 5）测试操作人员和分析人员应经过培训，熟悉操作方法和分析方法。 7.3.2 测量系统分析的基本流程 2．测量系统分析的程序 （4）分析用样品的选择： 1）样品必须从实际生产或检验过程中选择，并考虑尽可能代表实际生产中存在所有产品变差； 2）样品可以通过每一天取一个样品，持续若干天的方式进行选取。 7.3.2 测量系统分析的基本流程 3．测量系统分析的注意事项 1）给样品编号，测量人不应看到此编号，而记录人知道。在测量时，应每测一次换一个零件； 2）给样品标上测量位置，多次测量同一位置其结果不一样才可认为是测量系统的变差。 3）量具的可视分辨率应是产品公差/过程变差的十分之一，若允许，读数时可读到分度的一半。 7.3.3 测量系统分析方法 1）确定一个样本并获得其基准值。有时需要有预期 测量的最高、最低和中间值的样本，各自单独分析； 2）一位评价人测量该样本10次； 3）计算该样本的测量平均值X。 （1）偏倚的分析——独立样本法： 7.3.3 测量系统分析方法 偏倚（B）＝测量平均值（X）- 基准值（XT） （7.11） 过程变差＝6σ （7.12） ％偏倚＝100×偏倚/过程变差 （7.13） （1）偏倚的分析——独立样本法： 7.3.3 测量系统分析方法 【例7.14】某塞规量程是0.8±0.35，参考标准是0.80mm。过程变差为0.70mm，同一操作者对同一工件测量7次，测得数据如表7-7，请计算其偏倚，并对系统进行分析。 X10=0.70 X9=0.75 X8=0.75 X7=0.75 X6=0.80 X5=0.65 X4=0.80 X3=0.80 X2=0.75 X1=0.75 偏倚=0.75-0.8=-0.05； ％偏倚＝100×（0.05/0.7）=7.1% 解：测量数据的平均值 表7-7 某量具的偏倚分析数据 （1）偏倚的分析——独立样本法： 7.3.3 测量系统分析方法 偏倚接受准则： ①对测量特殊特性的测量系统，偏倚%≤10%时可接受，偏倚%＞10%时，不能接受。 ②对测量非特殊特性的测量系统，偏倚%≤20%时可接受，偏倚%＞20%时，拒绝接受。 7.3.3 测量系统分析方法 测量系统的线性是指在其量程范围内，偏倚应是基准值的线性函数； 一个测量系统不具有线性，那它不是一个合格的测量系统； 如果一个测量系统在设计时具有线性，但在使用时发现为非线性，就要查找原因，及时纠正或校准。 （2）线性分析 7.3.3 测量系统分析方法 线性分析的步骤： 1）选择g（≥5）个零件，由于过程变差，这些零件测量值应覆盖量具的操作范围。 2）确定每个样本的基准值； 3）仪器操作者中每一人测量每个零件m（≥10）次，随机地选择零件以使评价人对测量偏倚的“记忆”最小化； （2）线性分析 7.3.3 测量系统分析方法 4）计算每个样本的平均值Xi，分别减去各自的基准值，得到各自的偏倚平均值Bi 5）以基准值为横轴，偏倚值为纵轴标出各点（Xi，Bi）； 6）计算这些点拟合直线Y＝b＋ax中的斜率a和截距b； （2）线性分析 （(7.14） （（7.15） （(7.16） 7.3.3 测量系统分析方法 （2）线性分析 （8）a越小、R2越大，线性越好。 （7.17） （7）计算