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- 约 99页
- 2019-07-20 发布于甘肃
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金属化 淀积金属,一般是铝或Al-Si、Pt-Si合金等 光刻6#版(连线版),形成金属互连线 合金:使Al与接触孔中的硅形成良好的欧姆接触,一般是在450℃、N2-H2气氛下处理20~30分钟 形成钝化层 在低温条件下(小于300℃)淀积氮化硅 光刻7#版(钝化版) 刻蚀氮化硅,形成钝化图形 隔离技术 PN结隔离 场区隔离 绝缘介质隔离 沟槽隔离 PN结隔离工艺 绝缘介质隔离工艺 LOCOS隔离工艺 LOCOS隔离工艺 沟槽隔离工艺 接触与互连 Al是目前集成电路工艺中最常用的金属互连材料, 但Al连线也存在一些比较严重的问题 电迁移严重、电阻率偏高、浅结穿透等 Cu连线工艺有望从根本上解决该问题 IBM、Motorola等已经开发成功 目前,互连线已经占到芯片总面积的70~80%;且连线的宽度越来越窄,电流密度迅速增加 几个概念 场区 有源区 栅结构材料 Al-二氧化硅结构 多晶硅-二氧化硅结构 难熔金属硅化物/多晶硅-二氧化硅结构 Salicide工艺 淀积多晶硅、刻蚀并形成侧壁氧化层; 淀积Ti或Co等难熔金属 RTP并选择腐蚀侧壁氧化层上的金属; 最后形成Salicide结构 集成电路封装工艺流程 各种封装类型 示意图 集成电路工艺小结 前工序 图形转换技术:主要包括光刻、刻蚀等技术 薄膜制备技术:主要包括外延、氧化、化学气相淀积、物理气相淀积(如溅射、蒸发) 等
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