制程能力分析(CPK定义).pptVIP

製程能力分析 Analysis for Process Capability 何謂製程能力分析? 製程能力研究在於確認這些特性符合這些規格的程度，以保持製成品不符合規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。 製程能力研究的時機 製程能力研究的時機分短期製程能力研究 及長期製程能力研究 短期(Short Term)著重在新產品及新製程的試作、初期生產、工程變更或製程設備改變等階段(一般以Pp、Ppk表示) 長期(Long Term)以量產期間為主(一般以Cp、Cpk表示) 製程不良率之預估 製程能力指標Cp或CPK之值在一產品或製程特性分配為常態且在管制狀態下時，可經由常態分配之機率計算，換算為該產品或製程特性的良率或不良率，同時亦可以幾個Sigma來對照。 條件：這種理論的預估要在製程系統特性的分配為常態分配且在管制狀態下時才成立。 1.?製程常用術語 製程中的變異影像品質甚鉅。製程產出的變異性涉及三個常用術語。每個術語與變異性有稍微不同的關聯，於是針對此三個術語加以區別。 公差(Tolerances)：係指依工程設計或顧客要求所建立的規格。它指出產出的個別單位必須落於規格值範圍內，才可允收。 管制上下限(Control Limits)：是影響樣本統計量(如平均數與全距)機遇變異程度的統計界線。 製程變異性(Process Variability)：係指反應某製程之本質或內在的變異，亦可稱為製程能力(Process Capability)。 製程常用術語彼此關係 管制界限與製程變異性有這直接的關係：管制界限乃以抽樣變異性基礎，而抽樣變異性是製程變異的函數。 公差與管制界限或製程變異之間並沒有直接的關聯。公差是依據產品來設定的，而非依據生產產品的製程來設定的。 因此就某一已知的情況而言，即使統計製程上也許屬管制狀態，而此製程產出也許或也許不符合特定的規格。職是之故，我們必須進一步對製程能力加以考量。所謂製程能力(Process Capability)，係指製程產出固有的變異與設計規格所容許的變異之間的關係而言。 2. 製程能力分析 所謂製程能力分析(Process Capability Analysis)，係指製程產出固有的變異是否落於設計規格所容許的允收變異範圍之內。假若在規格內，則此製程具有能力。否則的話，管理者必須決定如何矯正製程。 生產過程中常有下列三種情況 製程能力與產出規格相當符合，因此幾乎所有的製程產出皆能符合規格 製程變異遠小於所要求的範圍，因此100%的產出務必在公差之內 產出規格小於製程能力，致使製程即使正常運作，仍有相當大的百分比無法符合規格 第三種狀況之處置方式 製程可能為管制狀態，但產出仍無法允收。因此，並不能假設穩定製程就能提供期望產出。相反地，我們必須別檢視某製程是否能符合規格，而不能僅建立管制圖來監控。在生產前，製程必須在管制狀態，且在規格內。 3. 製程能力的指標計算 3.1準確度Ca (Capability of accuracy) 比較製程分配中心與規格平均值一致 的情形。 公式：(平均值-規格中心)/(公差/2) = 3.2精密度：Cp (Capability of precision) 比較製程分散寬度度與公差範圍情形。 公式： 雙邊規格：公差/6倍標準差 = T/6σ ? 單邊規格：規格極值與平均值之差/3倍標準差 ? 從Cp值可知若T6σ時若大的越多，Cp值也越大，也就是說在這種生產條件下，本製程非常適合生產此種經密度之產品。反之若T6σ則Cp值也越小，說明了此製程在目前此種狀態下，不適合生產此種精密度之產品，Cp與Ca之不同點是Ca值越小越好， Cp則是越大越好。 3.3綜合評價：不良率p 公式： Z1=3Cp(1+Ca)求得p1 Z2=3Cp(1-Ca)求得p2 p=p1+p2(查常態分配表) 單位：% 某製程生產實績是否達到規格之要求，是要Ca及Cp均很好，因為有時Ca雖很好，但Cp不好，結果實績也會有很多落在規格外。或是Cp很好，但Ca很差時那也有很高之不良率可能。總評就是用Ca及Cp對整個製程品質之綜合評價。 3.4製程能力指標：CPK(Process capability)  公式： 單邊規格：CPK = Cp 雙邊規格：CPK=(1-〡Ca〡) ╳ Cp 當Ca=0時，Cpk=Cp Cpk總和指數，是Ca和Cp二值之指數。 Workshop Ex1. 勝光導光板廠，生產某型號之L/G總