光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术研究.pdfVIP

2 光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术研究 和器件潜在的本征缺陷，因此低频噪声可以用于电子器件的可靠性加严筛选。前 一种缺陷的噪声检测方法要比传统的电参数检测更加敏感，更为重要的是后一种 缺陷是用传统的电参数检测方法探测不到的。所以从这个角度来说噪声是一种无 损的、更加全面的可靠性表征方法。光电耦合器的噪声研究成果较多，相关学者 在深入研究光电耦合器低频噪声产生机理的基础上建立了光电耦合器l／f噪声模型 f141和g．r噪声模型【151，除此还建立了光电耦合器电流传输比的噪声表征模型【161。 研究指出，测量噪声功率谱可以作为筛选光电耦合器件的方法【171，其中1／f噪声， g-r噪声和爆裂噪声都可作为光电耦合器可靠性评估的筛选依据【l引。吉林工大已完 成低频噪声用于光电耦合器可靠性的评估条件1191的建立，但此判据建立在测试结 果分析的基础上的，未涉及到该类器件低频噪声产生的物理机制，也没有涉及光电 耦合器抗辐射能力噪声评价技术。近年来虽然也见到了用噪声参量来表征光电耦 合器的辐射损伤的研究【20】，但是文中仅给出定性的描述，而没有涉及用噪声参量 来评价光电耦合器的抗辐射能力。 研究光电耦合器的辐射效应，寻求灵敏有效的评价参量，形成评价方法来对 其抗辐射能力进行评价，对优选满足辐射环境要求的