材料分析方法-试题及答案-西安理工大学.docVIP

2010年 秋 季学期《材料分析测试方法》试卷A 命题教师 卢正欣 系主任审核 考试形式 闭卷 考试类型 √学位课 非学位课 （请打√选择） 考试班级 材物081~082，材化081~082，材081~084 考试 日期 20 考试 时间 2小时 班 级 姓名 学号 成绩 注意：1．命题时请适当留答题位置。请用深蓝色墨水书写，字、图清晰，书写不出边框。 2．答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草。试卷不得拆开。 填空：（每题2分，共20分） 1. X射线产生的三个基本条件是： 、 、 。 2. 电子显微分析可获得材料的 、_______________和 方面的信息，并且可以将三者结合起来。 3. X射线衍射的强度主要取决于_______因子、________因子、_______因子、________因子和________因子。 4. 是衍射的必要条件； 是衍射的充分条件。 5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的______________，其理论分辨本领是由______________和______________综合作用的结果。 6. 透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中________衬度主要用于解释晶体样品，_________衬度主要用于解释非晶样品。 7. 在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动角时，X射线探测器应转动______角；若样品固定，当X射线管转动角时，X射线探测器应转动_______角。 8. 在透射电镜中, 明场（BF）像是用________光阑挡掉________束，只允许________束通过光阑成的像。 教务处印制 共 8 页 （第 1 页） 9. 电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的________信号，按照对信号的色散方式不同分为________仪和________仪。 10. 俄歇电子能谱利用的是________与固体样品作用所产生的________信号，通过检测该信号的________来确定所含元素的表面分析方法。 选择：（1-8每题2分，9题4分，共20分） 1. 分析多晶衍射花样时，若各衍射线对应的Sin2θ比（X射线衍射）或R2比（电子衍射）的序列为3：4：8：11：12……, 则可确定该物相结构为________。 A、简单立方 B、体心立方 C、面心立方 D、金刚石立方 2. 立方晶系{111}晶面的多重性因子为________。 A、4 B、6 C、8 D、12 3. 在TEM中进行选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，这时中间镜的物平面与物镜的________重合；选区光阑与物镜的________重合。 A、物平面 B、主平面 C、后焦面 D、像平面 4. 扫描电镜形貌像的分辨率与________无关。 A、检测信号的类型 B、样品原子序数 C、放大倍数 D、入射束斑直径 5. 对某立方晶系样品进行TEM分析，在操作矢量时观察到一条直线位错。倾动样品，在时上述位错的衬度消失；再次倾动样品，在时上述位错的衬度仍消失，那么该位错柏氏矢量的方向为________。 A、 B、 C、 D、 6. 在下列材料成分分析仪器中，________可测试元素的范围最宽。 A、俄歇电子能谱 B、X射线光电子能谱 C、X射线波谱仪 D、X射线能谱仪 7. X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线_____改变；而微观应力测定利用的是衍射线______改变。 A、强度 B、位置 C、宽度 D、形状 8. 复型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法，其中________可用于金属与合金中析出相的分析。 A、塑料一级复型 B、碳一级复型 C、塑料－碳二级复型 D、萃取复型 9. 根据分析测试内容选择适当的分析仪器。 (1) 材料表面的残余应力测定________； (3) 晶体的点阵常数精确测定________ (2) 晶界析出相晶体结构分析________； (4) 界面化学成分测定________ A、扫描电子显微镜 　 B、X射线衍射仪　 　　C、