分析化学_重量分析法.pptVIP

第七章 重量分析法 7.1 重量分析法概述 a.沉淀法 P，S，Si，Ni等测定 　　　 b.气化法(挥发法) 例 小麦 干小麦, 减轻的重量即含水量 或干燥剂吸水增重 c.电解法 例 Cu2+ Cu称量白金网增重 对沉淀形式的要求 沉淀的 s 小, 溶解损失应0.2mg, 定量沉淀 沉淀的纯度高 便于过滤和洗涤 (晶形好) 易于转化为称量形式 1 溶解度与溶度积和条件溶度积 a 同离子效应—减小溶解度 沉淀重量法加过量沉淀剂，使被测离子沉淀完全 b 盐效应—增大溶解度 c 酸效应—增大溶解度 在pH=2.0的酸性溶液中 若pH=4.0，过量H2C2O4 ( c=0.10mol/L) 求s CaC2O4 e 影响s 的其他因素 温度: T↑， s↑ 溶解热不同, 影响不同, 室温过滤可减少损失 溶剂: 相似者相溶, 加入有机溶剂，s↓ 颗粒大小: 小颗粒溶解度大, 陈化可得大晶体 形成胶束： s↑, 加入热电解质可破坏胶体 沉淀析出时形态 9.3.1 沉淀的分类 在重量分析中,最好能获得晶形沉淀.晶形沉淀有粗晶和细晶之分. 如果是无定形沉淀,要注意掌握好沉淀条件,以改善沉淀的物理性质. 沉淀的颗粒大小,与进行沉淀时构晶离子的浓度有关. 7.3.2 沉淀的形成过程 无定形沉淀形成示意 晶形沉淀过程示意 晶形沉淀中，首先是构晶离子在过饱和溶液中形成晶核——讨论成核作用 Von Weimarn 经验公式 7.4 影响沉淀纯度的主要因素 吸附层和扩散层共同组成沉淀表面的双电层，从而使电荷达到平衡。双电层能随沉淀一起沉降，从而污染沉淀。这种由于沉淀的表面吸附所引起的杂质共沉淀现象叫表面吸附共沉淀。 2、混晶或固溶体 3、吸留和包夹 7.4.2 继沉淀现象 继沉淀与共沉淀的区别 继沉淀受放置时间影响，而共沉淀受影响小。 不论杂质是沉淀之前就存在，还是沉淀形成后加入的，继沉淀引入杂质的量基本一致。 温度升高，继沉淀现象有时更为严重。 继沉淀引入杂质的程度有时比共沉淀严重得多。 讨论共沉淀与后沉淀对分析结果的影响的处理 后沉淀 主沉淀形成后，“诱导”本难沉淀的杂质沉淀下来 缩短沉淀与母液共置的时间 7.5 沉淀条件的选择 1. 晶形沉淀 7.6 有机沉淀剂 特点 选择性较高 溶解度小，有利于沉淀完全 无机杂质吸附少，易过滤、洗涤 摩尔质量大，有利于减少测定误差 某些沉淀便于转化为称量形 1 常用有机沉淀剂 生成螯合物的沉淀剂： 通常含两类基团： － 酸性基团 － 碱性基团 生成离子缔合物的沉淀剂 离子态的有机试剂与带相反电荷的离子反应 －分子量大 (C6H5)4AsCl , －体积大 NaB(C6H5)4 (C6H5)4As+ + MnO4- == (C6H5)4AsMnO4 B(C6H5)4- + K+ == KB(C6H5)4 成核过程 均相成核 异相成核 长大过程 凝聚 定向排列 构晶离子 晶核 沉淀颗粒 无定形沉淀 晶形沉淀 晶形沉淀 n定向 n凝聚 均相成核作用 无定形沉淀 n凝聚n定向 异相成核作用 沉淀类型 长大过程 成核过程 聚集速度(分散度) 相对过饱和度 s:　晶核的溶解度 Q：加入沉淀剂瞬间溶质的总浓度 Q - s：过饱和度 K：常数，与沉淀的性质、温度、 介质等有关 n =K Q - s s 影响沉淀纯度的因素 共沉淀——重量分析中误差的主要来源 继沉淀 吸附 包藏 混晶 重量分析中，要求获得的沉淀是纯净的。但是从溶液中析出的沉淀或多或少夹杂溶液中的其他组分。 1、表面吸附 在沉淀中，构晶离子按照一定规律排列，在晶体内部处于电荷平衡状态，但在晶体表面上，离子的电荷不完全平衡，因而会导致沉淀表面吸附杂质。 例 Ba2+ SO42- 沉淀 用 BaSO4沉淀表面由于静电力作用，具有吸引带相反电荷的能力。组成吸附层。 SO42- SO42- SO42- SO42- SO42- SO42- SO42- SO42- Ba2+ Ba2+ Ba2+ Ba2+ Ba2+ Ba2+ Ba2+ SO42- SO42- 吸附层 然后SO42-再通过静电引力进一步吸附溶液中的阳离子，组成扩散层。 Ca2+ Ca2+ 扩散层 这些抗衡离