【技术资料】磁瓦表面图像的曲线拟合缺陷提取方法.pdf免费

第 9期 机械 设计 与制造 2015年 9月 Machinery Design Manufacture 107 磁瓦表面图像的曲线拟合缺陷提取方法 刘国平，常 震，胡珞华 (南昌大学 机电工程学院，江西 南昌 330031) 摘 要 ：为了克服磁瓦图像光照不均匀、缺陷区域对比度低等难点，提 出了一种基于曲线拟合的图像分割方法。对磁 瓦 图像进行逐行扫描后得到的灰度曲线，利用形态学滤波去除尖锐的波峰和波谷，然后以二次曲线作为模型采用最小二 乘法拟合平滑后的曲线得到该扫描线的灰度分布趋势，最后通过差分手段减弱背景影响、突出缺陷区域，用阈值分割 将缺陷区域提取 出来。实验证明该方法能够有效准确地提取不同光照下磁瓦内、外表面的不同种类缺陷，为后续缺陷 的分类识别奠定了良好基础。 关键词：磁瓦：形态学滤波；最小二乘法；曲线拟合；缺陷检测 中图分类号：TH16；TP391 文献标识码 ：A 文章编号：1001—3997(20