第一章X射线物理学基础.pptxVIP

现代材料分析技术;考核方式;绪 论;材料和材料科学; 贯穿一个主线： ;材料组成、结构、工艺（合成与制备）、性能（性质与使用性能）;一.材料的组织结构和性能;二.微观组织结构的内容;三.传统的显微组织结构与成分分析测试方法;四.X射线衍射与电子显微镜;2.电子显微镜（Electron Microscope,EM) EM是用高能电子束作光源，用磁场作透镜制造的具有高分辨率和高放大倍数的电子光学显微镜。 1）透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope,TEM)。分辨率10－1nm，放大倍数106倍。组织形貌和晶体结构。 2）扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）。分辨率1nm，放大倍数2×105倍。表面形貌观察。 3）电子探针显微分析（Eletron Probe Micro-Analysis,EPMA)。微区化学成分。 SEM和EPMA结合起来，表面形貌观察和微区化学成分分析。;第一篇 材料X射线衍射分析;第一章 X射线物理学基础;内容;引言;伦琴发现 X射线;第一节 X射线的性质; X射线的这些粒子称为光量子。每个光量子的E和P分别为： 式中，h为普朗克常数，6.626×10-34J·s，c为光速，2.998×108m/s。;第二节 X射线产生及X射线谱;X射线管主要由阴极、阳极和窗口组成： （1）阴极：阴极的功能是发射电子。它由钨丝制成，在通过一定的电流加热后便能释放出热辐射电子。 （2）阳极：阳极又称之为靶，是使电子突然减速并发射X射线的地方。主要的靶材主要有Cr、Fe、Co、Ni、Cu、Mo、Ag、W等。在软X射线装置中常用Al靶。 （3）窗口：是X射线射出的通道，通常窗口有两个或四个，窗口材料既要求有足够的强度以维持管内的高真空度，又要求对X射线的吸收较小。金属铍，也有用硼酸铍锂构成的林德曼玻璃。 ;X射线管剖面图;产生X射线的基本电气线路; 其特点是X射线波长从一个最小值λswl向长波方向伸展，强度在λm处有一最大值。这种强度随着波长连续变化的谱线称连续X射线谱。 λswl称该管电压的短波限。; 连续谱受管电压U、管电流i和阳极靶材的原子序Z的作用，其相互关系的实验规律如下： 1）当提高管电压U时（i、Z不变），各波长X射线的强度都提高，短波限λswl和强度最大值对应的λm减小。 2）当保持管电压一定，提高管电流i，各波长X射线的强度一致提高，但λswl和λm不变。 3）在相同的管电压和管电流下，阳极靶材的原子序数Z越高，连续谱的强度越大，但λswl和λm不变。 连续谱的总强度为： 式中，K1为常数。; 当X射线管仅产生连续谱时，其效率为： 效率很低，大部分能量都耗费在使阳极靶发热。 量子力学观点解释连续谱和短波限： 电子动能eU，全部给予一个光量子，则 ， 此光量子的波长即为短波限λswl ;二. 特征X射线谱;布拉格（W.H.Bragg)发现了特征谱。 莫塞莱（H.G.J.Moseley)对其进行了系统的研究，得出莫塞莱定律： 式中，K2和σ都是常数。该定律表明：阳极靶材的原子序数越大，相应的同一系的特征谱波长越短。 依据经典原子模型，各层上电子能量的表达式： En为主量子数为n的壳层上电子的能量；n为主量子数。 ; 量子力学观点解释特征谱： 当冲向阳极靶的电子将内层电子击出成为自由电子，原子处于高能的不稳定状态，自发向稳态过渡。 K层出现空位，原子处于K激发态，若L层电子跃迁到K层，原子转变到L激发态，其能量差以X射线光量子的形式辐射出来，这就是特征X射线。 L层电子跃迁到K层，发射Kα射线。 L层存在亚能级，不同亚能级上的电子跃迁到K层，所辐射的能量小有差别而形成波长较短的Kα1谱线和波长稍长的Kα2谱线。 若M层电子跃迁到K层，则辐射波长更短的Kβ谱线。;特征谱发射过程示意图;所辐射的特征频谱频率计算公式： 若n2=1(即K层），n1＝2（即L层），发射的Kα谱波长λkα为： ;进一步得到： K激发态下，L层电子向K层跃迁的几率远大于M层跃迁的几率，所以Kα谱线的强度约为Kβ谱线的5倍。 L层内不同亚能级电子向K层跃迁所发射的Kα1谱线和Kα2谱线的关系是： （I表示辐射强度）。 特征谱的强度随管电压（U）和管电流（i）的提高而增大，其