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实验一:门电路实验
一、实验目的:
熟悉、掌握门电路的逻辑功能
二、实验仪器和设备:
1、TPE-D6型数字电路学习机2、数字万用表
三、实验原理及主要知识点
1.与非门(有0出1,全1出0)
2.与或非门(画真值表自行总结)
3.或门(有1出1,全0出0)
四、实验步骤
实验前的准备:在学习机上未接任何器件的情况下(指实验用插座部分),先合上交流电源,检查5V电源是否正常,再合直流电源测VCC处电压是否正常,测两排插口中间VCC插口处电压是否正常,全正常后断开全部电源。
随后选择好实验用集成片,查清集成片的引腿及功能,然后根据实验图接线,特别注意VCC及地的接线不能接错,待老师检查后方可接通电源进行实验,以后所有实验依此办理。
测与非门的逻辑功能
1、选双4输入正与非门74LS20集成芯片一只;选择一个组件插座(片子先不要插入)按图接好线。
V
VCC
14
5
1
2
4
7
地
74LS20
6
v
双4输入正与非门74LS20
2、输入端接电平开关输出插口,输出端接发光二极管显示插口。
3、拨动电平开关,按表中情况分别测出输出端电平。
输入端
输出端
1
2
4
5
6
电压(V)
逻辑状态
1
1
1
1
0
1
1
1
0
0
1
1
0
0
0
1
0
0
0
0
(二)、测与异或门的逻辑功能
1、选两路四输入与或非门电路74LS55集成芯片一只;选择一个组件插座(片子先不要插入)按图接线。
V
VCC
14
1
2
7
地
74LS86
3
v
4个二输入异或门74LS86
2、输入端接电平输出插口,拨动开关当输入端为下表情况时分析测试输出端的电位,将结果填入表中:
输入
A的逻辑状态
0
0
1
1
B的逻辑状态
0
1
0
1
输出
Z的电位(V)
Z的逻辑状态
(三)、利用与非门(74LS00)组成组成或门电路并测试其逻辑功能
根据摩根定理或门的逻辑函数表达式,可以写成,因此可以用三个与非门构成或门。
(1) 将由三个与非门构成的或门测试电路画在下面空白处。
8
Z
2
5
1
4
6
3
10
9
(2) 当输入端(A、B)为下列情况时,分别测输出端(Z)的电位,将结果填入表中。
输入
A的逻辑状态
0
0
1
1
B的逻辑状态
0
1
0
1
Z的逻辑状态
五、实验思考题及实验报告要求
整理实验数据,并对数据进行分析,根据实验观察到的现象,回答下列问题。
1与非门在什么情况下输出高电平?什么情况下输出低电平?TTL与非门不用的输入端应如何处理?
2与或非门在什么情况下输出高电平?什么情况下输出低电平?TTL与或非门不用的与门应如何处理?
实验二 组合逻辑电路实验
一、实验目的
掌握组合逻辑电路的分析方法
验证半加器的逻辑功能
了解二进制数的运算规律
二、实验仪器及设备
TPE-D6型数字电路学习机 (二)数字万用表
三、实验原理及主要知识点
组合逻辑电路的分析是根据所给的逻辑电路,写出其输入与输出之间的逻辑关系(逻辑函数表达式或真值表)。从而判定该电路的逻辑功能。组合电路的分析方法,一般是首先对给定的逻辑电路,按逻辑门的连接方式,逐一地写出相应的逻辑表达式,然后写出输出函数的表达式(如果需要列真值表时,可由表达式通过运算求出)。但这样写出的逻辑表达式可能不是最简单的,所以还应该利用逻辑代数的公式或者卡诺图进行化简。
四、实验内容及步骤
(一)用与非门组成异或门电路
1、异或门的逻辑表达式为 2、将异或门的逻辑表达式化成与非表达式。
3、在下面空白处画出异或门逻辑符号及其由与非门构成的测试电路。
1
2
5
4
6
12212
13
11
2
1
8
3
9
6
4、将测试结果填入表中。
输入
A的逻辑状态
0
0
1
1
B的逻辑状态
0
1
0
1
输出
Z 的逻辑状态
(二)分析半加器的逻辑功能
1、写出下图电路的逻辑表达式
A
B
X1
X2
X3
Y
Z
X1= ; X2= ; X3=
Y= ; Z=
2、根据表达式列出真值表,并画出卡诺图判断能否化简。
A
B
X1
X2
X3
Y
Z
0
0
0
1
1
0
1
1
0
0
1
A
B
0
1
Y=
0
1
A
B
0
1
Z=
3、根据上图所示电路,在学习机上接线,将测试结果(逻辑状态)记入下列真值表,同时与上面真值表进行比较,两者是否一致。
A
B
Y
Z
0
0
0
1
1
0
1
1
五、实验思考题及实验报告要求
整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论
总结组合逻辑电路的分析方法 3、总结组合逻辑电路
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