品管部spc作业指导书.docVIP

1.0 目的： 了解过程变差，以帮助达到统计控制状态。 2.0 定义： 2.1 SPC------英文Statistical Process Control的字首简称，即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的。SPC强调全过程的预防。 2.2 控制图------对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL)，并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。 3.0 适用范围： 适用于均植和极差值(一R 控制图)、不合格品率的P-Chart控制图、CPK的运用。 4.0 职责： 4.1 品管部现场QC负责收集数据绘制图表; 4.2 品管员负责输入SPC软件，品质主管分析过程控制能力。 5.0 作业内容： 5.1? 一R控制图 对于计量值数据而言，这是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间和生产量等计量值的场合。 控制图 主要用于观察分布的均值的变化，R控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而一R图则将二者联合运用，用于观察分布的变化。 P控制图 用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数值质量指标的场合。这里需要注意的是，在根据多种检查项目总合起来确定不合格品率的情况，当控制图显示异常后难以找出异常的原因。因此，使用p图时应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率等等。 5.2 一R控制图的制作： 步骤1： 记录原始数据； ● 试生产时至少需记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整的一R控制图； ● 批量生产时由现场QC每两小时测量一次，每次记录5个数据。 步骤2： 计算样本均值； =(X1+ X2+。。。+ Xn)/n 式中：X1，X2。。。为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。 步骤3： 计算样本极差R； R= X最大值- X最小值 步骤4： 计算样本总均值与平均样本极差； =n1ixi??n n 1 i x i ? ? n 1 n 1 ? ? n 1 i R 步骤5： 计算R图与图的控制界限。 计算一R图应该从R图开始,因为图的控制界限中包含,所以若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意义。 R图的控制界限计算公式如下： UCL= CL= LCL= 图的控制界限计算公式如下： UCL=+ CL= LCL=- 式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3．27 2．57 2．28 2．11 2．00 1．92 1．86 1．82 1．78 D3 * * * * * 0．08 0．14 0．18 0．22 A2 1．88 1．02 0．73 0．58 0．48 0．42 0．37 0．34 0．31 * 对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。 第一次制作控制图时，控制界限的确定： R图的控制界限以开始的5组数据计算，计算公式同上； 图的控制界限以规格的上限作为UCL，规格的下限作为LCL，标准规格作为CL； 注：为了再次强调生产现场的所有控制的控制图的应用，还没有计算控制限（由于没足够的数据）的初期操作控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。这样，这些标有“初始研究”的控制图，不论是用于能力的初次确定还是用于过程经过改进/改变后在研究，是仅允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。 步骤6： 标注控制图的刻度； 步骤7： 将均值和极差画到控制图上。 ● 重新计算控制限： 在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点，重新计算新的过程均值、平均极差（）和控制限，并画下来，确保当与新的控制限相比时，所有的数据点看起来都处于受控状态，如有必要，重复识别/纠正/重新计算的过程。 5.3 不合格品率的P-Chart控制图的制作： 当控制图的控制对象为不合格品率时,过程处于稳定状态是指任何单位产品不合格品的概率为一常数P且所生产的各个单位产品都是独立的。样本不合格品率p定义为样本不合格品数D与样本大小n的比值,即p=D/n P-Char