实验一基本逻辑门电路实验.pptVIP

74XX32引脚图 74XX86引脚图 数字电子技术实验内容 实验一 基本逻辑门电路实验 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （一）实验目的 １.掌握TTL与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 ２.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 （二）实验所用器件 ｌ.二输入四与非门74LS00 1片 ２.二输入四或非门74LS02 1片 ３.二输入四异或门74LS86 1片 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （三）实验内容 １．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ２．测试二输入四或非门74LS02一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ３．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （四）实验提示 1.将器件的引脚７与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚１４与实验箱的十5Ｖ连接。 2.用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。 3.将被测器件的输出引脚与实验箱上的电平指示灯(LED)连接。指示灯亮表示输出低电平（逻辑为０），指示灯灭表示输出高电平（逻辑为1）。 （五）实验接线图及实验结果 7400中包含４个二输入与非门， 7402中包含４个二输入或非门， 7486中