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第四章 根轨迹法 本章主要内容 4.1 根轨迹法的基本概念 4.2 绘制根轨迹的一般原则 4.3 控制系统根轨迹分析 4.4 广义根轨迹 4.1 根轨迹法的基本概念 一、根轨迹法基本概念 二、根轨迹方程 通过选择若干次试验点,检查这些点是否满足相角条件,由那些满足相角条件的点可连成根轨迹,这就是绘制根轨迹的试探法 。 对任何正值,在[s]平面上从G(s)H(s)的各零点和极点分别向某点s引向量,如果从各零点所引向量的相角之和减去从各极点所引向量的相角之和等于180o的奇数倍时,那么该点就是根轨迹上的点。 4.2 绘制根轨迹的一般原则 根轨迹分支数 根轨迹对称于实轴 确定根轨迹的起点和终点 确定实轴上的根轨迹 根轨迹的分离点和会合点 根轨迹的渐近线 根轨迹的起始角和终止角 根轨迹的与虚轴交点 根之和 4.3 控制系统的根轨迹分析 一、闭环零点、极点与系统的阶跃响应 1、闭环零点、极点的分布 一个控制系统,在绘制出根轨迹后,可利用幅值条件,通过试探法在根轨迹图上求出对应的K*值的全部闭环极点(特征根)。 一般的 ,先在实轴上选择试点,找出实根以后,再去 确实复数根。 [例]:已知单位反馈系统的开环传递函数为 试根据系统的根轨迹分析系统的稳定性和计算闭环主导极点具有阻尼比 时系统的动态性

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