X射线衍射分析技术课件.pptVIP

晶粒大小的测定 Scherrer公式 计算中还需要考虑仪器的影响，尤其是仪器的宽化效应 根据晶粒大小还可以计算晶胞的堆垛层数 D是沿晶面垂直方向的厚度，也可以认为是晶粒大小 K是衍射峰形Scherrer常数，一般取0.89 ?是入射X射线的波长 ?是布拉格衍射角 B1/2是衍射的半峰宽，单位为弧度 TiO2纳米材料晶粒大小测定 对于TiO2纳米粉体，衍射峰2q为21.5 °，为101晶面 当采用Cu Ka，波长为0.154nm，衍射角的2q为25.30 °，半高宽为0.375 ° 根据Scherrer公式，可以计算获得晶粒的尺寸 D101＝21.5 nm 根据晶粒大小还可以计算出晶胞的堆垛层数 N=D101/d101=21.5/0.352=61 根据晶粒大小，还可以计算纳米粉体的比表面积 当已知纳米材料的晶体密度r和晶粒大小 利用公式s=6/rD进行比表面计算 小角X射线衍射 在纳米多层膜材料中，两薄膜层材料反复重叠，形成调制界面 周期良好的调制界面，产生相干衍射，形成明锐的衍射峰 对于制备良好的小周期纳米多层膜可以用小角度XRD方法测定其调幅周期 大周期多层膜调制界面的XRD衍射峰因衍射角度太小而无法观察 纳米TiN/AlN薄膜样品的XRD谱 S2样品在2q=4.43°时出现明锐的衍射峰,其对应的调制周期为1.99nm S3.5样品的2q=2.66°,