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仪器仪表:测试和测量方法及解决方案 
参考设计与系统应用 
李强,系统应用工程师,精密仪器业务 
法律声明 
 专有信息说明,免责与免除担保 
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   任何责任。使用其中提到的任何第三方参考软件须遵循与此等第三方签订的适用许可协议(若有)。 
   ©2013 Analog Devices, Inc. 保留所有权利 
 2 
今日议程 
 了解检测应用中精密数据采集面临的挑战 
    在较宽范围内进行复杂的阻抗测量(CN0217) 
                        ® 
    使用双轴低g iMEMS  加速度计进行360°全范围倾斜测量(CN0189) 
    以高无噪声代码分辨率实现电子秤信号调理和低电平信号的数字化(CN0216, 
     CN0102) 
 用于展示适用于多种精密传感器调理电路(包括MEMS )的重要设计原则 
   的精选应用 
                                    ® 
 考察来自Circuits from the Lab  参考电路信号链解决方案并经过测试和 
  验证、旨在展示设计原理的电路 
    现有低成本评估硬件和软件 
    完整的文档包: 
       原理图、BOM、布局、Gerber文件、组件 
 3 
参考电路 
 Circuits from the Lab 
   ®参考电路是经过测试的参考电路,有助于加速设计,同时简化系统集成,帮 
   助并解决当今的模拟、混合信号和RF设计挑战。 
                                      评估板硬件 
                                     设计文件和软件 
                                         Windows评估软件 
                                          原理图 
                                          物料清单 
                                          PAD布局 
                                          Gerber文件 
                                          装配图 
                                          产品器件驱动器 
 4 
系统演示平台(SDP-B、SDP-S ) 
       USB                                         USB 
       SDP-B                  评估板                  SDP-S         评估板 
                                  电源                        电源 
 SDP (系统演示平台)板在ADI公司出品的许多评估板和 
   参考电路板以及运行评估软件的PC之间提供了智能化的USB通信方案 
    SDP-B (基于ADSP-BF527 Blackfin® )            SDP-S (基于USB到串行引擎) 
       两个120引脚小型接头                    
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