该图的说明
a 沟道长度 3λ
b GS/GD覆盖λ
c p+,n+最小宽度3λ
d p+,n+最小间距3λ
e p阱与n+区间距2λ
f 孔距扩散区最小间距
2λ
g Al覆盖孔λ
孔 2λ× 3λ或 3λ× 3λ
h Al栅跨越p+环λ
i Al最小宽度4λ
j Al最小间距3λ;2) 铝栅、硅栅MOS器件的版图;Source/Drain: Photomask (dark field);Gate: Photomask (dark field);Contacts: Photomask (dark field);Metal Interconnects: Photomask (light field);硅栅硅栅MOS器件工艺的流程Process (1)刻有源区;Process (2)刻多晶硅与自对准掺杂;Process (3)刻接触孔、反刻铝; ;;;; 4) 硅栅MOS版图举例
E/E NMOS反相器 ;E/D NMOS 反相器 ; 制备耗尽型MOS管; 硅栅CMOS与非门版图举例 ;;硅栅P阱CMOS反相器版图设计举例;1. 刻P阱;4. 刻PMOS管S、D;VDD;光刻1与光刻2套刻;光刻3与光刻4套刻;光刻5与光刻6套刻;;5) P阱硅栅单层铝布线CMOS的工艺过程;CMOS集成电路工艺--以P阱硅栅CMOS为例;2、阱区注入及推进,形成阱区;3、去除SiO2,长薄氧,长Si3N4
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