《三极管放大倍数测试显示》-毕业论文（设计）.docVIP

江苏技术师范学院毕业设计说明书(论文) 第 PAGE 10页 共 NUMPAGES 66页 第1章 绪论 1.1 课题的意义和目的 随着科学技术进步，电子工业发展突飞猛进，整个行业呈现勃勃生机，电子系统越来越复杂，其相关的测试技术也愈显重要，在对集成电路的设计验证，产品检验及维护等方面都要对集成电路测试[1]。而测试的设备是必不可少的工具。晶体管，本名是 半导体三极管，是内部含有两个PN结，外部通常为三个引出电极的半导体器件。它对电信号有放大和开关等作用，应用十分广泛。输入级和输出级都采用晶体管的 逻辑电路，叫做晶体管－晶体管逻辑电路，书刊和实用中都简称为TTL电路，它属于半导体集成电路的一种，其中用得最普遍的是TTL与非门。 TTL与非门是将若干个晶体管和电阻元件组成的电路系统集中制造在一块很小的硅片，封装成一个独立的元件.晶体管是半导体三极管中应用最广泛的器件之一，在电路中用“V”或“VT”（旧文字符号为“Q”、“GB”等）表示。晶体管被认为是现代历史中最伟大的发明之一，在重要性方面可以与印刷术，汽车和电话等的发明相提并论。晶体管实际上是所有现代电器的关键活动（active）元件。晶体管在当今社会的重要性主要是因为晶体管可以使用高度自动化的过程进行大规模生产的能力，因而可以不可思议地达到极低的单位成本[1]。 虽然数以百万计的单体晶体管还在使用，绝大多数的晶体管是和二极管，电阻，电容一起被装配在微芯片（ 芯片）上以制造完整的电路。模拟的或数字的或者这两者被集成在同一块芯片上。设计和开发一个复杂芯片的成本是相当高的，但是当分摊到通常百万个生产单位上，每个芯片的价格就是最小的。一个逻辑门包含20个晶体管，而2005年一个高级的微处理器使用的晶体管数量达2.89亿个[2]。 晶体管的低成本，灵活性和可靠性使得其成为非机械任务的通用器件，例如数字计算。在控制电器和机械方面，晶体管电路也正在取代电机设备，因为它通常是更便宜，更有效地仅仅使用标准集成电路并编写计算机程序来完成同样的机械任务，使用电子控制，而不是设计一个等效的机械控制。因为晶体管的低成本和后来的电子计算机，数字化信息的浪潮来到了。由于计算机提供快速的查找、分类和处理数字信息的能力，在数字化方面投入了越来越多的精力。今天的许多媒体是通过电子形式发布的，最终通过计算机转化和呈现为模拟形式。受到数字化革命影响的领域包括电视，广播和报纸[3]。而晶体管测试仪的应用广泛，功能也因要求不同而不同，有的可以测试晶体管的放大系数，反向击穿电压，反向饱和电流，晶体管的输入输出特性曲线、延迟时间、晶体管开启时间等，有的只是测晶体管的好坏、也有的数字万用表可以测晶体管的直流放大系数[4]。在一些电子产品的调试、测试及维修过程中,人们常常怀疑某块插件板上的三极管是否有问题。有时用电压表测量印制线路板上三极管的静态工作点,尽管各电极电压正常,但三极管却无输出信号[3]。从印制线路板上将三极管焊下来拿到图示仪上去测试,不是发现三极管无放大作用,就是电流受外界干扰在示波器上的显示不稳定。通常半导体的直流放大倍数可以用示波器和模拟万用表测量，但都存在读数不直观和误差较大等缺点。本题目要求用数字显示测量电路测量三极管的直流放大倍数值，既直观又方便，而且误差小。而我们这次设计的是第三种即：简易三极管放大倍数测试系统是利用单片机AT89C51基本功能，辅以必要的外围电路，用C编语言编写程序，并进行模块化设计而成的简易半导体三极管参数测试仪。本系统不仅实现了题目的基本要求功能还增加部分的功能。 1.2 课题的研究内容 本次课题设计主要是以单片机STC89C51为核心， 结合ADC0809芯片的功能，实现对三极管基本参数的测量及显示。具体课题设计研究内容如下： 1．提出基于单片机STC89C51的三极管基本参数测试仪的设计方案[6]。选用“单片机+A\D”的设计方案制作出一个简易三极管测试仪[7]； 2．完成三极管放大电路的供电电路、放大采样电路、数据处理及显示电路等硬件电路设计[8]； 3．完成与三极管基本参数测试仪的硬件电路设计和软件程序编写[9]； 4．最终完成系统板的制作安装，对其软硬件的进行综合调试，并进行测试数据的分析和总结。 1.3 课题的任务要求 根据课题的意义和目的，经分析本次课题需要研究的内容，提出了该课题相应的设计任务的要求，完成晶体管放大倍数测试系统的硬件设计。主要包括恒流源采样电路与A/D转换电路及显示电路的设计与调试。要求系统能准确地测量晶体管的电流放大倍数并显示，各部分电路与单片机接口电路力求简单，以节省单片机的I/O资源。具体技术指标如下： （1）可靠实现对晶体管基极和集电极电流的检测； （2）晶体管的电流放大倍数误差合理； （3）A/D转换器分辨率位合理；