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自动测试设备中电缆损耗补偿 摘要：随着电力事业的迅速发展，对供电可靠性和用电安 全性的要求在进一步的提高，电力设备绝缘状况检测技术的 发展日益得到重视，新的检测设备和新的检测技术不断在推 出。电线电缆是最常用的电力设备，同时也是出现绝缘故障 的概率最高的设备，据不完全统计，电气绝缘不良引起的事 故中波及的设备有近一半与电线电缆有关。在我国，针对高 电压等级的电缆绝缘检测技术受到了普遍的重视，但是针对 低压配电网的电线电缆绝缘检测技术的研究却进展不大。 本论文首先简要介绍了电线电缆绝缘材料的特性，阐述了绝 缘材料老化的机理、绝缘漏电流的成因和相关电路模型，并 在此基础上分析了针对电线电缆的各种绝缘检测技术的原 理以及各自的优缺点。其次，基于低压配电网绝缘检测的实 际需求，本课题研制的一种基于单片机的数字兆欧表，论文 从软硬件两方面对其工作原理和性能作了详细的说明。此外, 通过建立相应的电路模型，论文从理论上探讨了叠加法应用 于IT型低压配电网的在线绝缘检测技术的可行性和优越性， 并且通过Mat lab软件仿真，得到了初步的验证。 关键词：自动检测设备绝缘检测损耗补偿 中图分类号：G267文献标识码：A文章编号： 前言自动测试设备(ATE)中包含了非常复杂的集成电路, 专门用于驱动设备的每个引脚。而各个测试设备供应商为了 降低成本，采用了质量较差的电缆来连接各个引脚，从而产 生了一定的电缆损耗。为了补偿这种损耗，文章采用小尺寸 引脚电子器件(PE)来驱动电缆，通过适当的电子电路来补偿 电缆损耗，使ATE系统性能接近PE所能提供的性能指标，达 到无需考虑电缆损耗问题的目的。 目前有许多测试公司设计、制造并销售引脚数众多的自 动测试设备(ATE) o这些测试设备具有非常复杂的集成电路, 用于驱动设备的每个引脚。一台测试设备的引脚数可能多达 4096个。每个引脚通常都有一个相应的驱动器、比较器、负 载，有时甚至需要参数测试单元(PMU) o这些电路通过电缆 连接到测试引脚。为了降低成本，供应商可能会选用质量比 较差的电缆。而任何电缆，尤其是质量较差的电缆，都会产 生损耗，从而降低了测试设备的最终性能。 电缆损耗 ATE中的电缆损耗类型 在ATE中，每个引脚通常连接一个相应的驱动器，比较 器，负载，有时需要参数测试单元，而这些电路通过电缆连 接到测试引脚。而质量较差的电缆产生的电缆损耗和介电损 耗。其中趋肤效应损耗是指高频信号沿着导体内测表面传输 而产生的损耗。试验表明，趋肤效应损耗导致导线每单位长 度上的电阻和电感随频率的平方根面成比例增长。除了趋肤 效应损耗外，由于电子介质绝缘体会影响电缆电容，电介质 绝缘体同样会产生与频率相关的电缆损耗，即介电损耗。 在自动测试设备中，趋肤效应损耗对于低频损耗起主导 作用，介电损耗对于高频损耗起主导作用，具体损耗大小取 决于电缆的质量和规格。 对于运行在200MBPS范围的测试设备，电缆的损耗不大; 而在500MBPS时，就需要对整个信号路径，电路，电缆以及 引脚的性能进行仔细分析，以保证每个引脚得到正确的指 标。其中，影响测试设备的主要参数指标包括，波形的直流 电精度，上升和下降时间，最大的触发率，最小的脉宽，边 沿的传输延时精度和匹配和传输偏差。 由于不同电缆的价格差异较大，高速测试设备大多选用 损耗较大的劣质电缆。当速率接近或超过1GBPS,必须充分 考虑电缆损耗。 电缆损耗补偿 损耗是由电缆结构或相关连接部分中的阻抗变化所引 起的信号衰减。这些变化导致信号反射（返回）到源端。 在低频段回波损耗影响相对较小#65533；在50 MHz以上频 段#65533；回波损耗会造成显著的影响。 电缆上信号反射涉及到两种类型的测量。一种是回波损 耗RL #65533；另一种是结构回波损耗SRL #65533；类似 于回波损耗RL#65533；但测量方式不同。在SRL测量情况 下W65533；测试仪器匹配于平均电缆阻抗来测量所反射的 信号。使用RL测量时#65533；测试仪器设定为额定电缆阻 抗（例如75欧姆）来测量所反射的信号。回波损耗RL 是一种更为准确的测量反射的方法。在实际应用中#65533； 人们不能调节设备的输入或输出阻抗。结构化回波损耗SRL 测量忽视了电缆输入阻抗的不匹配#65533；并非实际的测 量。回波损耗RL是更为适合的#65533；不管电缆或设备的 实际阻抗而设定为指定的阻抗值（此处为75欧姆）来测 量信号反射情况。 中心导体 如果中心导体尺寸有误差W65533；或尺寸随机变化 #65533；将影响阻抗和回波损耗。如果在中心导体以外的位 置存在上述情况也将产生同样的影响。由轮子不圆所导致的 尺寸变化将如前所述周期性地变化。 绝缘 当挤压中心导体周围的绝缘层时#65533；很多因素都