SPC统计过程控制培训知识.pptVIP

A2、计算每个子组內的不合格品率 记录每个子组內的下列值 被检项目的数量─ n 发现的不合格项目的数量─ d (np) 通过这些数据计算不合格品率： A3、选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识別（小时、天等）作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 划图区域 A4、将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势； 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比別的高出或低出许多，检查计算是否正确； 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状況，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部分。 Ｂ阶段 计算控制限 B1、计算过程平均不合格品率； B2、计算上、下控制限； B3、画线并标注。 步骤B： n p p p LCL n p p p UCL p CL n n n d d d n n n p n p n p n p p p p k k k k k ) 1 ( 3 ) 1 ( 3 .... ...... .... .... 2 1 2 1 2 1 2 2 1 1 - - = - + = = + + + + + + = + + + + + + = 中心线和控制限： 计算过程平均不合格率和上、下控制限 画线并标注： 均值用水平实