线性定常系统的串联校正实验指导.docxVIP

实验六线性定常系统的串联校正 一、 实验目的 熟悉串联校正装置的结构和特性； 掌握冷联校止装置的设让方法和系统的实吋调试技术。 二、 实验设备 同实验-一 三、 实验内容 观测未加校正装置时系统的动、静态性能。 按动态性能的要求，分别用时域法或频域法（期望特性）设计串联校正装置。 观测引入校正装置后系统的动、静态性能，并予以实吋调试，使Z动、静态性能均 满足设计要求。 利用上位机软件，分别对校正前和校正后的系统进行仿真，并与上述模拟系统实验 的结果相比较。 四、 实验原理 下图是一串联校正系统的方块图： ? |Gq（8）|——|gq（8）|_—?. 图中校正装置Gc（S）与实验电路Go （S）是串联相连接。串联校正装置有两种:一种 是超前校正，它是利用超前校正装置的相位超前特性来改善系统的动态性能；另一种是滞后 校正，它是利用滞后校正装置的高频幅值衰减特性，使系统在满足静态性能的前提下又能满 足其动态性能的要求。本实验釆用串联超前校止，使校止后的系统同时能满足动态和稳态性 能的要求。 有关串联校正装置的设计和实验系统的模拟电路，请参看附录。 五、实验步骤 利用实验台上的各通用单元，组建所设计二阶闭环系统的模拟电路图（参考木实验 附录中的图5-1）,并连接好实验电路；当检杳接线无误后，接通实验台的电源总开关，并 开启土5V, ±15V直流稳压电源。 把采集卡接口单元的输出端DA1、输入端AD2与电路的输入端相连，电路的输出 端则与采集卡接口单元屮的输入端AD1相连。连接好采集卡接I I单元与PC上位机的通信 线。待接线完成并检查无误后，在PC机上启动“THBDC-1”软件。在系统的输入端输入一 阶跃信号，观测该系统的稳定性和动态性能指标。具体步骤参考实验一的步骤2。 参阅本实验的附录，按对系统性能指标的要求设计串联校正装置的传递函数和和应 的模拟电路。 利用实验平台，根据步骤3设计校正装置的模拟电路（具体可参考本实验附录的图 5-3）,并把校正装置串接到步骤1所设计的二阶闭环系统的模拟电路中（图5-4）o然后输入 一阶跃信号，观测该系统的稳定性和动态性能指标。 改变串联校正装置的相关参数，使系统的性能指标均满足预定的设计要求。 利用上位机软件提供的软件仿真功能，完成线性系统串联校正的软件仿真研究，并 对电路模拟与软件仿真结果进行相比较。利用上位机软件提供的软件仿真功能完成线性系统软件仿真的具体操作方法请参阅“实验一”中的实验步骤4。 根据实验吋存储的波形完成实验报告。 六、 实验报告要求 根据对系统性能的要求，设计系统的串联校止装宜，并画出它的电路图。 根据实验结果，画出校正前系统的阶跃响应曲线及相应的动态性能指标。 观测引入校正装置后系统的阶跃响应曲线，并对实验所得的性能指标与理论计算值 作比较。 实吋调整校正装置的相关参数，使系统的动、静态性能均满足设计要求，并分析相 应参数的改变对系统性能的影响。 七、 实验思考题 加入超前校正装置后，为什么系统的瞬态响应会变快？ 什么是超前校正装置和滞后校正装置，它们各利用校正装置的什么特性对系统进行 校正？ 实验时所获得的性能指标为何打设计吋确定的性能指标有偏差？ 八、 附录 1 ?时域校正法 加校正前系统的方框图和模拟电路分别如图5-1和图5-2所示。 5 1 0.5s+l 0.2s R(S) +QS) R(S) + 图5-1二阶闭环系统的方框图 200K200K 200K r 200K200K jj.+4-MI图5-2二阶闭环系统的模拟电路图 实验台上的参考单元：U6、 r 200K 200K jj . + 4- MI 图5-2二阶闭环系统的模拟电路图 实验台上的参考单元：U6、U7、U10、 设计要求：Kv=25 1/s, Mp0.2, 校正询系统的开环传递函数为 5 25 U5 ts 1 s G()(5)~ 0.2S(0.5S +1) S(0.5S +1) 对应的闭环传递函数为 5() (0 = = 2,g = -^― = J——=0」4 ? V50 山此可知未加校正装置前系统的超调量为 Mp = e 0.63 = 63% Kv = 25 根据对校正后系统性能指标要求 5 =6设校止装置的传递函数为Gq(S) =0.5S + 1 5 =6 设校止装置的传递函数为 Gq(S) = 0.5S + 1 T5 + 1 由 Mp 0.2 = e = 歹=0.5 3 05 则校匸后系统的开环传递函数为 G(S) = Gc(S)Go(S)= G(S) = Gc(S)Go(S)= 25 0.5S +1 x 5(0.55 + 1) TS + 1 25 S(TS + 1) 相应的闭坏传递函数 2525/T 25 G(S) + 1 TS2 +5 + 25 S +S/T + 25/T S?