4透射电镜热电一体系统-ccgp.PDFVIP

第 4 包 透射电镜热电一体系统 一、功能要求 该仪器是兼容本单位 FEI 公司透射电镜(FEI Titan-ETEM, FEI Titan-G2,Themis)的微区加热和电学系统。它可以在透射电镜内完成微区加热以 及电学实验，即可在纳米甚至原子尺度下观察样品（纳米颗粒/纳米线/FIB 切割 后的块体材料等）在加热或通电作用下的变化，表征形貌并记录变化过程。 二、技术要求(供应商应提供证明材料) 1.兼容 FEI 品牌的透射电子显微镜 2.系统具有加热、加电、同时加热和加电的功能 *3. 透射电镜软件直接控制β 角倾转 4.样品最小漂移率：≤0.5nm/min *5.倾转角：α ≥±20°且β ≥±20° 6.分辨率：≤0.8 Å *7.电极数量；≥6 电极 *8.最高加热温度：≥1300℃； 9. 温度准确度：≤5% 10. 温度精度：≤0.01℃ 11.温度稳定度：最高加热温度时，≤0.1℃的温度变化 12.加热速率：≥200℃/s 13.最大电场：≥100kV/cm （800℃下） 14. 最小的检测电流：≤100pA 15、附件 MEMS 芯片（电阻丝）一盒； 工具一套； 三、服务要求 1、质保期：设备验收合格后 1 年。 2、负责提供免费送货安装调试和使用人员培训。 3、提供完整的售后服务方案。 四、其他要求 1、交货时间：签订合同或收到预付款后 4 个月 2、交货地点：北京工业大学 3、采购数量：1 套 4、需要执行国家相关标准、行业标准、地方标准或者其他标准、规范。 第 5 包 高通量电子背散射衍射仪 一、功能要求 1.1、配合现有 TeScan 扫描电镜（S8000）以及原位样品台实现高通量 EBSD 分析。 1.2 工作环境： 同电镜，15°C--30°C；湿度：85%相对湿度，无冷凝 1.3 接地电阻： 同电镜 二、技术要求 *2.1 高速低噪音 CMOS 相机，分辨率 1244*1024，和 TeScan S8000 扫描电镜良好 兼容 *2.2 EBSD 在线解析标定速度不低于 3000pps，此时花样分辨率仍能保持为 156*128。电子图像分辨率高达8192*8192，EBSD 面分布图分辨率高达 4096*4096， 取向精度高达 0.05 度 *2.3 可通过控制盒或软件控制探测器上下移动，以适应不同的工作距离，并且 无需重新校准，软件可以自动校准并直接标定 2.4 采用专门定制的光学系统，具有高效率、高清晰度、无畸变的特点，探测器 在出厂前测试保证图像畸变1 像素 2.5 独有的接近传感器，保护 EBSD 探测器前端，在可能的碰撞发生前就探测并 预警 2.6 探测器插入退出，最快速度：15mm/s，精度：10μ m 2.7 专业高速通讯接口，四核 CPU 工作站，保证解析的高速度. 2.8 软件配置 2.8.1 采用多任务设计，可以同时并行数个任务，并支持分屏显示及远程控制。 操作软件完全与能谱仪软件一体化，可进行 EBSD 晶体取向分布分析。可根据能 谱数据对 EBSD 花样进行预过滤，实现对未知相的相鉴定，实现能谱 EBSD 同时联 机分析且不降速。 *2.8.2 动态自动背景扣除技术，探测器参数自动优化，大大减轻用户工作量。 切换样品、更换分析位置、以及 EBSD 探测器伸缩、倾转后均无需重新扣除背景 或重新优化。 2.8.3 能对所有对称性（从三斜到立方）晶体材料的 EBSP 花样进行自动化的标 定， 且各相的反射面可以独立选择，并可以进行带宽修正，也可以对衍射带边 缘及中间进行标定。 2.8.4 配置 HKL 标准数据库和 ICSD 海量晶体学数据库，已经滤掉伪对称数据。 2.8.5 采用最优化的 Hough 变换，多条带标定方法（最多可以用 12 根菊池带进 行标定），根据平均角度偏差 MAD 结构因子进行完全自动化的菊池带识别和花样 标定. 适合金属， 陶瓷，地质，半导体等多种类型的样品 2.8.5 面分布图软件包 2.8.6 极图软件包 2.8.7 晶体反射文件生成软件包 2.8.8 相鉴定分析软件包 2.8.9 可自动剥离形变和再结晶区 2.8.10 针对 TKD 分析的专用标定模式 2.8.11 专用的高精度标定模式，实现更高角度分辨率的标定 2.8.12 过滤器可以针对应变分析，进行数据平滑处理，去除噪音 2.8.13 子集（Subset）功能，可以实现数据的逻辑运算，得到非常灵活的处理 结果 2.8.14