电镜原位突破.PDFVIP

电镜原位突破 超高温加热，电性能及液体环境的测试平台 在 1000° C 的原子分辨率 • 图片由博士拉里 阿拉德橡树岭国家实验室提供 系统介绍 Aduro™ 使电子显微镜的分析能力进行革命性的突破，通过提供表征温度在 1200°C 电性能或加热的原位原子分辨率的能 Aduro™ 1,000,000°C/ 力。事实上， 提供加热速率高达 秒。快速热加速时间可允许量化，应用于材料和工艺的动态反应研究分析， 这对于其他研究方式分析不可实现的。 E-CHIP™ Aduro™ 1 2 利用我们革命性的 标本支持技术， 是最灵活和高性能在原位加热和电性测试平台。或 个通道可利用， 每个通道可以单独配置您的样品，只需选择使用哪个 E-CHIP™，提供加热或者电性能测试。 Aduro™ 系统由 TEM 载台（SEM 平台），外接电源，控制器与软件，必需的电缆和使用说明书组成。单一倾斜的载台适合 大多数的 TEM/STEM 和 SEM 等仪器。样本尖端有一个专有的弹簧夹设计，可以快速简便的装载和卸载 E-CHIP™ 标本而不需 要额外的工具。 Aduro™ 特点和优点 特点 优点 电和热刺激 系统提供了一个平台，供研究使用 E-chip 样本的支护技术 超高的稳定性和低漂移。小于 1 毫秒响应温度变化 非常精确的温度和试样的电流 /电压控制 惰性，能够达到的温度从室温到 1200℃ 一次性设计，消除污染，并兼容大多数 TEM/STEM 和 SEM 的仪器 规格 温度范围 室温 -1200°C 的环境 2 4 渠道 单或双通道设计（ 或 个引线） 倾斜 (α 和 β) 精确的倾斜度取决于杆件的配置和系统 Aduro E-chip 4.0 ×5.8 300μm 尺寸 毫米 毫米， 厚 观测区域 500 微米 ×500 微米 功率要求 110/220V 01 在 1000° C 的原子分辨率 Aduro 的 E-chip 为热应力及电特性材料的样品提供一个革命性的产品平台。 E-chips Aduro E-chips 利用最先进的设计和制造的半导体技术， 使 家族具有前所未有的性能和灵活性。热 为精确的温度 控制、超低漂移提供一个平台，温度可达 1200°C 和升温速率达到 1000000°C / 秒。电气 E-chips 在当前电流偏精确或电压模 式提供一个平台，在现有的水