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* 衍射谱线宽化效应及卷积关系 姜传海 上海交通大学材料科学与工程学院 宽化效应及卷积关系 1、影响谱线宽度的主要因素 2、几何宽化效应 3、物理宽化效应 4、谱线卷积关系 1、影响谱线宽度的主要因素 实测线形或综合线形，是由衍射仪直接测得的衍射线形，影响因素主要包括： (1) 仪器光源及衍射几何光路等实验条件所 导致的几何宽化效应； 光源 狭缝 试样 (2) 实际材料内部组织结构所导致的物理宽 化效应。凡是破坏晶体完整性的因素， 均导致衍射谱线宽化。 (3) 衍射线形中 Kα 双线及有关强度因子等所 导致的宽化效应。 1 K K α α 2 真实线形或物理线形，是反映材料内部真实情况的衍射线形，仅与材料组织结构有关。 这种线形虽无法利用实验手段来直接测量，但可以通过各种校正及数学计算，从实测线形中将其分离出来。 这就是衍射线形分析的目的。 2、几何宽化效应 几何宽化效应也称仪器宽化效应，主要与光源、光栏及狭缝等仪器实验条件有关。 例如X射线源具有一定几何尺寸、入射线发散、平板样品聚焦不良、接收狭缝较宽及衍射仪调正不良等，均造成谱线宽化。 即使是其它实验条件都相同，仅接收狭缝发生变化，同一试样的衍射谱线则