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2016 安徽工业大学 本科生课程材料的分析方法 主讲教师: 胡 锦 莲 教材：周玉，武高辉，材料分析测试技术----材料X射线衍射与电子显微分析，哈尔滨工业大学出版社，2007年8月第2版 自查书目：(1) 学校数字图书馆，“超星”里搜索 有关材料分析类书(2) 互联网网站搜索， 小木虫论坛网站参考书目： 1)卢利平等著，《材料现代分析与测试技术》，，国防工业出版社， 2010年1月第一版，（ X射线衍射分析中引入了计算机程序对衍射数据分析）2）齐海群，《材料分析测试技术》，北京大学出版社， 2011年10月 第一版3）谷亦杰等，《材料分析检测技术》，中南大学出版社，?2009年02月第一版基本要求： 掌握基本原理，了解常用实验方法，在实际工作中能正确选用本课程中介绍的实验方法，并能与专门从事X射线与电子显微分析的人员共同制定实验方案与分析实验结果素质培养：1) 知识2) 技术 3）高端设备4）思维怎样学： 认真+思考 （利用好课堂， 某些同学作业要独立）考察： 平时成绩（出勤+听课回答问题状态+作业） 30% 期末成绩 70% 课堂课后深入透彻理解+期末熟练掌握和记忆＝好成绩 绪论 材料内部的成份、结构直接决定着材料的性能和应用。 如何判定材料的成份和结构是材料学领域的关键问题。问题1： 假如你有一块黄橙橙的矿石，你能判断是否含有黄金吗？ 阿基米德方法？问题2：你能区分不同结构的相同成分物质？金刚石锅烟灰---C60炭纳米管碳结构的变化 在本次课程学习的主要材料分析方法： (1) X射线衍射仪（XRD， X-Ray diffraction） 用于物相(或说结构）分析 及其他[ d?fr?k?n]透射电镜（TEM， Transmission Electron Microscope） 物相分析，和微观形貌[?ma?kr?sk??p] (3) 扫描电镜 （SEM， Scanning Electron Microscope） 表面形貌(4）电子探针显微分析（EPMA, Electron P robe Micro-Analysis)： 微区成分分析, 可作为两电镜的附件。[??n?l?s?s] 它分两类： 波长分散谱仪—波谱仪WDS, Wavelength Dispersive Spectrometer 能量分散谱仪—能谱仪 EDS, Energy Dispersive Spectrometer [spek?tr?m?t?(r)] 高能电子束与固体样品作用时产生的信号和6大材料分析手段EDS/WDS 高能电子入射样品2衍射XRD特征X射线样品2光电子XPS二次电子X射线扫描电镜SEM背散射电子样品2荧光（二次特征X射线 样品1X射线荧光谱分析透射电子（TEM）(XRD)X射线衍射仪透射电镜（TEM）可进行物相分析多晶体衍射花样单晶体衍射花样TEM: 可形成衍射花样, 进行物相分析, 图c50 nm(2) 可成像 图a, b2nm扫描电微镜（SEM）苍蝇的复眼扫描电镜图像 第一部分 材料X射线衍射分析X-ray Diffraction常用来分析 物相、晶格参数，应力等 第一章 X射线的性质 本章要点：1. X射线的本质2. X射线管的主要构造3. X射线连续谱的特征、 产生原因4. X射线特征谱产生过程，产生条件(难点) ， 命名, 莫塞莱定律5. X射线与物质相互作用: 散射(相干与非相干), 真吸收( 光电子，荧光X 射线, 俄歇效应)6. X射线透过的强度公式，质量吸收系数7. 二次特征辐射概念， 吸收限(或称激发限)的概念及对应吸收曲线8. 吸收限的应用----怎样滤波，一般怎样选耙电子束伦琴于1901年获首届诺贝尔物理奖第一张X光照片 §１－１　引言1895年，伦琴发现了一种穿透力很强的射线——Ｘ射线伦琴W. K. Rontgen劳厄准直缝晶体劳厄斑·X射线···２. 1912年劳厄（M.von Laue）发现通过晶体时产生衍射现象, 证实了X射线的波动性 §１－２　 X射线的本质X射线的本质: 波长很短的电磁波 ●波长很短的电磁波 0.01~100? 用于晶体分析的λ= 0.5~2.5?●具有波粒二象性(实际上任何物质具波粒二象性） 波动性：以一定频率、波长在空间传播； 微粒性：以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量、能量和动量。其中：h为普朗克常数， c为X射线的速度，例：求200 nm 的一个光子所具有的能量　γ射线 核能级跃迁 X射线 原子内层电子的能级跃迁　紫外光 原子或分子外层电子的能级跃迁 可见光　　原子或分子外层电子的能级跃迁　红外光 分子振动和转动能级的跃迁　微 波 无线电波能量（了解）附：电磁波谱无线电波→微波→红外光→可见光→