多晶体X射线衍射分析方法研究.pptVIP

2、定标器 定标器是对甄别后的脉冲进行计数的电路。 定标器有定时计数和定数计时两种方式。测量精度服从统计误差理论，即测量脉冲总数越大误差越小。一般情况下使用的是定时计数方法。 定标器计数的预置时间由定时器控制。用定标器读取的数值以数字形式由数码管显示，并在打印机上输出或在X-Y记录仪上绘图。 由测量的脉冲数除以给定时间即获得平均脉冲速率（单位时间内的脉冲数）。 3、计数率计 定标器测量一段时间的脉冲数。 计数率计是测量单位时间内的脉冲数，其功能是把从脉冲高度分析器传来的脉冲信号转换为与单位时间脉冲数成正比的直流电压值输出。 计数率计由脉冲整形电路、 RC(电阻、电容) 积分电路和电压测量电路组成。 经脉冲高度分析器输入的脉冲经整形电路整形，成为具有一定高度和宽度的矩形脉冲，然后输送到RC积分电路，将单位时间内输入的平均脉冲数转变为平均直流电压值（以毫伏计计量），再由电子电位差计绘出平均强度随衍射角度变化的曲线，即衍射图。 计数率计的核心部分是RC积分电路。 当一个脉冲到达时就给电容器充电并通过电阻放电。充、放电存在时间滞后，滞后的时间取决于R和C的乘积。 RC的量纲是秒，故称之为时间常数。 RC越大，计数率计对衍射强度变化越不敏感，衍射图中曲线越平滑整齐；但滞后也越严重，衍射峰的形状位置受到歪曲也越明显。 RC越小，对衍射强度变化越灵敏，图谱中曲线起伏波动较大，弱峰识别困难。 四、衍射强度的测量 该法常用于物相定性分析。 使计数器与计数率计连接，测角仪采用θ-2θ连动，计数管从较低的2θ角开始，以选定的角速度逐渐增高至所需角度（或从高角到低角）。计数率计记录各衍射角所对应的衍射强度，其结果逐步在计算机屏幕上显示并储存，然后在打印机上输出测量结果或在绘图仪上给出衍射图。 1、连续扫描 采用连续扫描可在较快速度下获得一幅完整而连续的衍射图。如：以4o/min的速度测量一个2θ从20o～100o的衍射花样，20min即可完成。 当需要全谱测量时，一般选择连续扫描方式。 连续扫描的测量精度受扫描速度和时间常数的影响，故要合理选择这两个参数。 2、步进扫描（阶梯扫描） 该法常用于精确测定衍射峰的积分强度、位置。 使计数器与定标器连接。计数器从起始2θ角按预先设定的步进宽度(例如0.02o)步进时间(例如5s)逐点测量各2θ角对应的衍射强度(每点的总脉冲数除以计数时间)，其结果逐步在计算机上显示并储存，其后可将衍射图输出。 步进扫描每点的测量时间较长，总脉冲计数较大，可有效地减小统计波动的影响。步进扫描不使用计数率计，没有滞后效应，故测量精度较高，但因费时较多，通常只用于测定2θ范围不大的一段衍射图。 步进宽度和步近时间是决定测量精度的重要参数，故要合理地选定。 步进扫描衍射图 3、衍射强度公式 粉末多晶衍射仪法与德拜法两者衍射强度的记录方法有差别，另外所用试样也不相同。 采用衍射仪法时，入射线和衍射线与板面成θ角，入射线、衍射线的路径相同，改变θ角只是改变照射面积。当θ角由大变小时，照射面积增大的同时，照射的深度在减小，故照射体积基本不变，表现为吸收因子与θ角无关。 但在各θ角下均存在吸收，吸收因子为1/(2μl)。 五、实验条件选择 衍射仪用试样不同于德拜照相法的试样。衍射仪的试样是平板状，样品盛放槽具体外形如图： 1、试样 衍射仪试样可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。对于块状、片状试样可以用粘接剂将其固定在试样框架上，并保持一个平面与框架平面平行；粉末试样用粘接剂调和后填入试样架凹槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。试样对晶粒大小、试样厚度、择优取向、应力状态和试样表面平整度等都有一定要求。 衍射仪用试样晶粒大小要适宜，在1μm-5μm左右最佳。粉末粒度一般要求能通过325目的筛子为合适。 2、实验参数选择 在衍射仪法中许多实验参数的选择与德拜法是一样的（阳极靶、滤波片、管电压、管电流），这里不再赘述。 与德拜法不同的实验参数是狭缝光阑、时间常数和扫描速度。 （1）狭缝宽度 增加狭缝宽度可使衍射线强度增加，但导致分辨率下降。 增宽发散狭缝K即增加入射线强度，但在θ角较低时却容易因光束过宽而照射到样品之外反而降低了有效的衍射强度，并可由试样框带来干扰线条及背底强度。物相分析通常选用的狭缝K为1o或0.5o。 防散射狭缝L对峰底比有影响，通常使之与狭缝K有同一数值。 接收狭缝F对峰强度、峰底比和分辨率有明显影响。一般情况下，只要衍射强度足够，应尽可能地选用较小的接收狭缝。相分析中常选用0.2mm或0.4mm的狭缝。 （2）时间常数 计数率计和记录仪所记录的强度是一段时间内的平均计数率，这一时间间隔称为时间常数，表示X射线衍射强度记录时间间隔的长短。 增大时间常数可使衍射峰轮廓及背底变得平滑，但同时将