ICT测试盲点问题和PCB测试点设计.docVIP

ICT测试盲点问题 不可测零件或不稳定测试程序 〔电容〕： 1.小电容并联大电容：C1＝1nf ， C2＝1uf　（相差10倍以上）， 　　　　　　　　　　 C1《《 C2 ， C1无法准确测量。 ?????2. 电容并联电感：需用交流电信号以相位分离法检测，但有误差，不易测出。 ?? (电容并联小电阻) ： 小电容300PF：标准值易偏高，较受旁路干扰，标准值易变更、不稳。 〔电阻〕： 电阻并联电容：因为电容之充放电效应,测量值轿标准值偏低，延迟时间不可超过500 M Sec 重复测试不可超过5次，测试较不稳。 电阻并联电阻：测量值Rx＝R1*R2／(R1+R2)＝须修改标准值，并联电阻若有误差值，不易测试出。 电阻并联电感：在直流信号源下是近似短路，所以无法被准确测出。 电阻并联跳线：所有的电流皆流经跳线，所以电阻无法被测出。 小电阻并联大电阻：大电阻无法量测。（相差20倍以上） 〔二极管〕： 二极管与电感并联：二极管无法准确测量。 二极管与跳线或保险丝并联：二极管无法准确测量。 齐纳二极管( Zener Diode )：量测电压为它的崩溃电压，超过系统量测范围。 二极管并联二极管：无法测量,ADSYS可以用DR Mode测试,可以准确量测。 〔其它〕： 振荡器(XTAL)功能是否正常。（振荡器是以小电容方式作量测,4MHz以下可以量测漏件）