实践第1章绪论 X射线物理学基础.pptVIP

31 二、 X 射线的真吸收 ? 吸收限的应用 参照图 1-9 ，可选择一种合适的材料，使其吸收限恰好位 于特征谱的 K ? 和 K ? 波长之间，且尽可能靠近 K ? 线波长。把这 种材料制成薄片 — 滤波片，置于入射线光路中，将强烈吸收 K ? 线，而对 K ? 线吸收很少，可以获得基本上为单色的辐射 常用靶材的滤波片选择见表 1-2 ，滤波片比靶材的原子序 数小 1~2 ，通过调整滤波片厚度，使滤波后 I K ? / I K ? ≈1/600 当 Z 靶 ? 40 时， Z 滤 = Z 靶 - 1 当 Z 靶 ? 40 时， Z 滤 = Z 靶 - 2 第三节 X 射线与物质的相互作用 32 二、 X 射线的真吸收 ? 吸收限的应用 阳 极 靶 滤波片 ( 使 I K ? = 1/600) I / I 0 ( K ? ) 元素 Z ? K ? /nm ? K ? /nm 元素 Z ? K /nm 厚度 /mm ? t / g ? cm -2 银 47 0.0561 0.0497 铑 45 0.0534 0.079 0.096 0.29 钼 42 0.0711 0.0632 锆 40 0.0688 0.108 0.069 0.31 铜 29 0.1542 0.1392 镍 28 0.1488 0.021 0.019 0.40 钴 27 0.1790 0.1621 铁 26 0.1743 0.018 0.014 0.44 铁 26 0.1937 0.1757 锰 25 0.1895 0.016 0.012 0.46 铬 24 0.2291 0.2085 钒 23 0.2268 0.016 0.009 0.50 表 1-2 与几种常用的阳极靶及及配用的滤波片参数 第三节 X 射线与物质的相互作用 1 材 料 科 学 研 究 方 法 主 讲 李 伟 洲 wzli@gxu.edu.cn 广西大学材料学院 教 材 材料分析方法 2 本教材主要内容 绪 论 第一篇 材料 X 射线衍射分析 第一章 X 射线物理学基础 第二章 X 射线衍射方向 第三章 X 射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 3 本教材主要内容 第二篇 材料电子显微分析 第八章 电子光学基础 第九章 透射电子显微镜 第十章 电子衍射 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析 第十二章 高分辨透射电子显微术 第十三章 扫描电子显微镜 第十四章 电子背散射衍射分析技术 第十五章 电子探针显微分析 第十六章 其他显微分析方法 4 绪 论 ? 本课程的特点：以分析仪器和实验技术为基础 ? 本课程的内容主要包括： X 射线衍射仪、电子显微镜等分 析仪器的结构与工作原理、及与此相关的材料微观组织结 构和微区成分的分析方法原理及其应用 ? 本课程的意义在于：通过材料微观组织结构和微区成分分 析，揭示材料组织结构与性能的关系，即 组织是性能的内 在根据，性能是组织的对外表现 ；确定材料加工工艺和组 织结构的关系，以实现微观组织结构控制 ? 本课程的基本要求：了解常用的现代分析仪器的基本结构 和工作原理；掌握常用的实验分析方法；能正确选用合适 的分析方法解决实际工作中的问题 5 第一篇 材料 X 射线衍射分析 ? 1895 年德国物理学家伦琴发现了 X 射线，随后医学界将其 用于诊断和医疗，后来又用于金属材料和机械零件的探伤 李鸿章在 X 光被发现后仅 7 个月就体 验了此种新技术，成为拍 X 光片检 查枪伤的第一个中国人。 6 ? 1912 年德国物理学家劳埃发现了 X 射线在晶体中 的衍射现象，为物质结构研究提供了一种崭新的 方法，后来发展成为 X 射线衍射学 ? 1912 年英国物理学家布拉格提出了晶面“反 射” X 射线的概念，推导出至今被广泛应用的布 拉格方程 ? 1914 年莫塞来发现特征 X 射线波长和原子序数有 定量的对应关系，这一原理应用于材料成分检测 ? X 射线衍射分析研究内容很广，主要包括 相分析 、 精细结构研究 和 晶体取向测定 等； ? X 射线学三大分支：透射学， 衍射学 ， 光谱学 。 7 比较一下各图的差别 2θ Ke V 8 课题讨论 ? 你所了解的材料表征方法与技术，优 缺点 9 第一篇 材料 X 射线衍射分析 第一章 X 射线物理学基础 第二章 X 射线衍射方向 第三章 X 射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 10 第一章 X 射线物理学基础 本章主要内容 第一节 X 射线的性质 第二节 X 射线的产生及 X 射线谱 第三节 X 射线与物质的相互作用 11