国家标准《碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法》-征求意见稿.docVIP

GB/T 2080—×××× PAGE 14 PAGE 1 ××××-××-××实施××××-×× ××××-××-××实施 ××××-××-××发布 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 Tungsten carbide powder microstructure and defect analysis method （征求意见稿） 中华人民共和国国家标准 ICS 77.160 CCS H 70 GB/T XXXX-XXXX GB/T XXXX-XXXX 国家市场监督管理总局 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发 布 发 布 GB/T XXXX—20XX PAGE I 前 言 本文件按照GB/T 1.1-2020《文件化工作导则 第1部分：文件化文件的结构和起草规则》的规定起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国有色金属工业协会提出。 本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）归口。 本文件起草单位：株洲硬质合金集团有限公司。 本文件主要起草人：周华堂、谢晨辉、谭立群。 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 1 范围 本文件规定了碳化钨粉末样品制备方法和微观组织分析、细粉团聚、夹粗、团聚体、晶粒抑制剂以及杂质等缺陷分析方法。 本文件适用于碳化钨微观组织观察和粉末缺陷分析。其他微观组织及粉末缺陷分析可参照使用。 2 规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3 术语和定义 本文件没有需要界定的术语和定义。 4 概述 本文件提出了一种碳化钨微观组织及缺陷分析方法，包含样品制备、细粉团聚、夹粗、团聚体、晶粒抑制剂和杂质的分析与表征等。本文件建立的分析方法用于评价碳化钨粉末的质量。 5 仪器设备 5.1 扫描电子显微镜 5.2 X射线能谱仪 5.3 超声波清洗仪 6 缺陷类型 碳化钨粉末缺陷类型有：细粉团聚、夹粗、团聚、晶粒抑制剂聚集以及杂质。缺陷类型和缺陷描述见表1。对应的示例图片见附录A。 碳化钨粉末缺陷类型及描述 缺陷类型 缺陷类型描述 对应图片 细粉团聚 明显低于平均粒度的碳化钨粉末聚集。 图1a和图1b 夹粗 平均粒度5倍以上的单个或多个碳化钨颗粒，表面有丰富的结晶条纹，形状规则。 图2 团聚 平均粒度5倍以上多个碳化钨粉末颗粒聚集，结构致密。 图3 抑制剂聚集 平均粒度5倍以上晶粒抑制剂Cr3C2或VC，以单独或混合形式聚集。 图4a和图4b 杂质 碳化钨和晶粒抑制剂成分之外的元素聚集。 图5a和图5b 7 样品制备 7.1 待测试样应干燥，无板结，具有代表性。 7.2 将样品台用金相砂纸打磨光滑平整，放入盛有无水乙醇的烧杯中进行超声波清洗，去除表面残留物。 7.3 微观组织观察 7.3.1 剪取少量碳导电胶于样品台，用镊子夹持样品台蘸取碳化钨粉末于碳导电胶上。 7.3.1 将样品压紧压实，用洗耳球吹掉粘得不牢样品。 7.4 缺陷分析 7.4.1 用签或勺子蘸取适量碳化钨粉末于样品台上。 7.4.2 滴几滴丙酮于碳化钨粉末上，用镊子固定样品台进行振荡分散，至碳化钨粉末均匀覆盖在样品台上。 7.4.3 待丙酮挥发后，即可放入扫描电子显微镜中进行观察。 注：为避免粉末脱落，制备好的样品应立即放入扫描电镜中观察。 8 样品分析及表征 8.1 微观组织观察 8.1.1 将制备好的碳化钨粉末样品放入扫描电镜中，在100×～200×下浏览整个样品视场。 8.1.2 在样品平整部位进行放大观察样品组织形貌。 8.1.3 为观察样品表面细节，加速电压选择3KV～5KV,工作距离选择4mm～6mm左右，放大倍数选择5000×～30，000×。 8.2 缺陷分析 8.2.1 将制备好的碳化钨粉末样品放入扫描电子显微中。在1,000×～2,000×放大倍数下快速浏览整个样品视场。 注：为确保所观测的碳化钨具有代表性。至少浏览20个视场。 8.2.2 如在低倍视场下发现团聚体，放大5,000×～10,000×下进而判断该团聚体类型，松散的软团聚体则不进行观察；观察硬团聚体形态特征并测定尺寸，记录团聚体的数量和尺寸。 8.2.3 如在低倍视场下发现夹粗，进行放大5,000×～10,000×下所观察到的夹粗颗粒进行放大观察形态特征并测定夹粗颗粒尺寸，记录夹粗颗粒的数量和尺寸。 8.2.4 利用X射线能谱仪对所观察到的杂质和晶粒抑制剂进行分析，分析杂质和晶粒抑制剂的元素，判定晶粒抑制剂成分。 9 实验报告 9.1 碳化钨粉末微观组织。 9.2 碳化钨粉末缺陷类型，形貌、尺寸及数量。 附录A （资料性）碳化钨粉末缺陷分类照片 图A.1 碳化钨粉末细粉团聚（a） 图A.1 碳化钨粉