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　 80C51与 TS L214传感器在快速动态测量与图象识别中的应用 　 The Application of 80C 51and TS L 214Sensor in Q uick and Dynamic Measurement and Picture Identif ication 　 ●李 　 荣 　 符 雪 桐 　　 Li R ong 　 Fu Xuetong 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 李 　 荣 , 现在浙江大学工业控制研究所四室工作。 地址 :杭州市玉古路 20号 　 邮政编码 :310027 收稿日期 :1996年 5月 26日 1　 引言 　　 在许多实际工作中 , 快速动态测量与图象 识别是不可避免的 , 如零件尺寸的自动检测 , 钞 票的鉴别 , 光学字符的识别等等 , 可少的 。 与德克萨斯 TSL214光电式固体图象传 感器作为检测设备 。 前者处理数据快与接口能 力强 , 而后者工作电压低 、 功耗小 、 寿命长 、 性能 稳定 , 因而它们非常适用于快速动态测量与图 象识别 。 本文同时还给出了一个零件尺寸自动 测量的实例来加以具体阐述 。 2　 硬件的工作原理及接口 2. 1　 TSL214传感器的基本工作原理 　　 TSL214属于 6431的电荷耦合光电二极 管线阵器件 , 可把采样的 64个光信号变成脉冲 信号 , 每一个脉冲只反映一个光敏元的受光情 况 , 脉冲幅度表示其受光强度 。 TSL214有两 种运行模式 : 　　 (1 充电脉冲模式 。在此模式下 , TSL214对 64个光信号进行采样 。 　　 (2 取样保持方波输出模式 。此模式下 , 它作为一个移位寄存器 , 把 64个模拟信号量依 次输出 。 　　 同时 , 在输出期间 , 每一个相应点的电压值 可在时钟信号的上升沿时得到 , 整个输出期间结 束于 65个时钟周期的上升沿 , 时序图见图 1 。 图 1TSL214的时序图 2. 2　 尺寸自动测量的基本原理 　　 由于被检测的零件可能较大 , 而 TSL214光敏元的中心距离又很小 , 因此必须加上光学 放大器件 (如凸透镜 , 把图象适当缩小 , 再通过 TSL214的检测 , 把零件的图象存于光敏阵列 上 , 其内部的时钟和扫描脉冲电路对每个光敏 元顺次询问 , 然后输出相应的模拟信号值 。为 了便于保存与分析数据 , 模拟输出结果必须转 化成数字量 , 这由模数转换器 ADC 集成芯片来 完成 , 最后利用 80C51来处理数据 。 　　 在光学系统放大率为 1∶ M 的装置中 , 有 L =(N d ±2d M 式中 　 L ──工件尺寸 　 N ──覆盖的光敏单元数 　 d ── 相邻光敏元中心距离 ±2d ── 图象末端两个光敏元中之间的最大可能误 差 　　 若利用某些特殊的信号处理电路或者采用 插值法 , 分辨率可由 d 变成 0. 1d 。 2. 3　 硬件接口说明 　　 在图 2中 , 由于 TSL214在充电脉冲模式 下对 SI 的方波有很高的要求 (要与最大扫描频 率相符合 , 因此让 SI 与 80C51的 P1. 2相连 , 　 通过软件设置产生所需波形 。 同样 TSL214的 CL K 与 P1. 1相连 , 以产生所需波形 。 图 2硬件接口图 TSL214的模拟输出 V IN , CS 相 80C51通过控制 RD 、 WR 从 P0口读写数据来加以分析 , 完成零 件尺寸的自动检测 。 这种检测还具有联机监视 功能 , 当零件主要尺寸与图象检测系统中存贮 的零件轮廓尺寸有较大偏离时 , 可产生失效信 号 , 允许自动舍弃超差的零件 。 3　 系统软件设计 　　 系统软件设计的框图如图 3所示 。 　　 当子程序被调用时 , 充电脉冲模式下采样 的 64个数据全被存放在开始于 Store -addr 的 连续地址中 。 被存放的数据处理完毕后 ,SI 脉 冲可以使 TSL214继续采样 。 必须注意的是生 图 3系统软件框图 成的 SI 脉冲长度与采样再度一致 (采样频率最 高为 10MHz 。 4　 结束语 　　 80C51单片机与高性能的 TSL214传感器 相结合 , 能高效地采样与分析处理数据 。在快 速动态测量与图象识别中 , 这一系统已取得了 良好的效果 。 可以预见 , 在检测领域中 , 它的用 途将会更加广泛 。 ■ 参考文献 1Richard N ass , 80C 51microcontroller jumps to 16bits , E lectronic Design , V ol 42, N O. 19 2I ntel corp ,the handbook of micr