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第35卷第7期 光电工程 Vol.35, No.7 2008年7月 Opto-Electronic Engineering July, 2008 文章编号:1003-501X(2008)07-0136-04
基于维纳滤波的红外焦平面非均匀性校正算法
刘永进,朱 红,赵亦工
( 西安电子科技大学 电子工程学院,西安 710071 )
摘要:针对焦平面阵列上各探测单元光电响应的非均匀性,本文使用了维纳滤波技术来实现红外焦平面阵列非均匀校正。该方法首先根据实际情况确定一个输出延迟,然后采用维纳滤波并借助前后帧信息对当前帧进行多次估计,最后取其均值作为此帧的最终校正结果。文中使用了真实红外图像对算法性能进行验证,由于能够充分利用过去和将来的场景信息,因而本算法可以有效地去除原图像上的固定图案噪声。
关键词:红外焦平面阵列;非均匀校正;固定图案噪声;维纳滤波
中图分类号:TN215 文献标志码:A
Nonuniformity Correction Algorithm for Infrared
Focal Plane Arrays Based on Wiener Filtering LIU Yong-jin,ZHU Hong,ZHAO Yi-gong
( School of Electronic Engineering, Xidian University, Xi’an 710071, Chi
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