实验一TTL集成逻辑与非门参数测试.pptVIP

实验九可反辑与非们 数的测实验 ≯实验目的 ≯实验注意事项 ≯实验原理 中TL使用注意事项 ≯实验参考电路实验设备与景材 中实验预习要求→实验思考题 →实验内容和步骤→实验报告要求  实验目的 ■了解TTL与非门各参数的意义。 ■掌握TTL集成与非门主要参数的测试 方法 ■掌握TTL器件的使用规则。  二尖验原理 随着现代电子技术的飞速发展,集成电路具 有体积小、重量轻、可靠性高、寿命长、功 耗小、成本低和工作速度快等优点,因此它 在数字电路领域中,几乎取代所有分立元件 电路。集成逻辑门是构成各种数字电路的基 本逻辑单元,而TTL与非门是目前使用较普 遍的一种基本逻辑门电路。与非门主要参数 的测量是选择器件与设计逻辑电路时必须掌 握的  本实验采用74系列双列直插式四2输 入TTL与非门74LS00集成芯片进行参数测 试,其外形引脚排列及逻辑符号如图2-1-1 所 4A434X3A33y ALSDO 图2-1-174LS00外形引脚排列和TIL与非门逻辑符号  ◆(1)平均功耗P TTL与非门工作于开态(输出低电平)和关态(输出高电平)时,电 源电流值是不同的。电路处于稳定开态时的空载功耗称为空载导通功耗 P1=lrr×v 式中,{—空载导通电源电流 电源电压 测试条件:与非门的输入端悬空,输出空载,Ve=5V 电路处于稳定关态时的空载功耗称为空载截止功耗P 空载截止电源电流:H×心 测试条件:与非门的输入端至少有一个接地,输出空载,V=51 平均功耗:P为电路空载导通功耗P与空载截止功耗P的平均值 P PL+ Ph