OLED的失效分析文件.pptVIP

利用NK多功能薄膜分析仪对经过室温老化7,10,40天的样品行测试,得到样品的反射率曲线,如下图所示。为加速器件失效,对老化40天器件的一点通电使其失效,对这个失效点的反射率进行测试,并与未失效的器件的反射率图谱进行比较。 .......... * 为分析样品反射率变化的具体原因,我们选取老化40天的完好样品和失效样品进行进一步的厚度对比测试。老化40天后经过通电失效的样品的厚度测试如图所示。 .......... * 下面的表格是厚度平均值对比表(失效点与其他部分12个完好点)。为减小计算量,经过多次试验后将ITO层和NPB层的厚度固定,只对另两层的厚度进行计算拟合分析。 nm 失效点与完好点的厚度平均值对比 .......... * 结论：失效器件的反射率变化主要是第3层Alq3和第4 层LiF的变化引起的。 .......... * 在OLED逐步走向实用化商品化的同时，一些新的可靠性问题应运而生，电极引线腐蚀造成的器件失效就是其中之一。电极引线是连接电压驱动与发光器件的电极的部位，其腐蚀直接破坏驱动与器件之间的电连接从而导致器件失效。因此找出电极引线腐蚀发生的机理并提出控制方案以减少此类现象的发生，对提高OLED的可靠性至关重要。 .......... * 通电后有部分连续的象素 显示变浅甚至不亮 器件显示缺陷 .......... * 导致该现象的腐蚀电极显微形貌 .......... * 图中小方块即一个独立的发光器件，其阴极和阳极则分别与同行或同列的器件的阴极和阳极一起引出，通过芯片控制引线上的电压调节象素的亮度，从而在器件上显示不同的图形。 .......... * ITO因具有对可见光和近红外光透明和高电导率的特点而被广泛应用于光电器件中，OLED采用ITO作为透明阳极。引线与阳极同时采用ITO，这样图形可经一次光刻工艺成形。由于单用ITO作为引线电阻率不够低，Cr金属镀层则可提高引线电导率。同时Cr在空气中或在室温氧化性酸的气氛中能形成致密的表面氧化层，对许多化学介质有抗腐蚀性，在多种环境中具有优良的耐蚀性，所以也可作为引线的保护层。 .......... * 为分析引线腐蚀发生的原因，对电极材料进行了极化 曲线测量及分析。 将电极引线材料切割成 10mm×8mm的小块，清洗干燥后在一侧绕上导线，并用石蜡松香混合物封装导线，防止导线暴露在外。留出约 6mm×8mm的引线材料表面作为工作面。 实验介质为 0.5mol/L，0.1mol/L的NaCl溶液及人工汗液溶液(含有0.5%氯化钠、0.1%乳酸、0.1%尿素的去离子充气水溶液)。 实验温度控制在25℃ .......... * .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu .iuu 新型电子器件封装 OLED器件的失效分析 OLED简介 失效分析的研究意义 几种典型失效现象分析 总结 参考文献 绪论 .......... * OLED(Organic Light Emitting Diode)有机发光显示技术是继TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display) 的新一代平面显示器技术。 .......... * 自发光，视角达170度以上 响应时间快 无LCD残影现象 高亮度（100-14000cd/m2） 高光效（16-38lm/w） 低操作电压（3-9v DC),低功率消耗 全彩化 面板厚度薄（2mm） 可制作大尺寸与可挠曲性面板 .......... * 通常我们定义失效为功能退化或者功能丧失 失效分析是人们认识事物本质和发展规律的逆向思维和探索，是变失效为安全的基本环节和关键，是人们深化对客观事物的认识源头和途径。在失效分析中，通常将失效分类。从技术角度可按失效机制、失效零件类型、引起失效的工艺环节等分类。从质量管理和可靠性工程角度可按产品使用过程分类。 .......... * 目前阻碍OLED走向实用化和市场化的关键问题是其发光效率低、工作寿命短、性能稳定性差。开展OLED的失效分析工作，研究其失效机理，开发新的分析方法，对提高器件可靠性具有十分重大的意义。 OLED失效涉及的问题很多，国内外的研究机构对此已经做过大量有益的工作，工艺上取得了很大的进展!但失效的规律和具体机理仍然没有被完全揭示。 .......... * 一般来说，只要不是由于元件的结构和材料等基本性质所造成的元件衰退，通常就被归类为非本质劣化，而非本质劣化最重要的表现在黑点的增加，当不发光区域逐渐增加时，将会造成OLED发光的区域相对的减少，进而影响寿命的问题。