《统计技术管理办法》.docxVIP

统计技术管理办法 目的： 为了控制和验证制程能力和产品特性，使本公司在关键岗位上充分运用采集的信 息和数据，分析和控制质量问题的发生，有助丁揭示质量形成规律及满足顾客的要求和 期望. 范围： 本办法适用丁本公司进料检验，制程检验，制程能力确认试验，成品检验，可靠度试 验，主要制程参数管制等能以统计技术，图表式管制图作为管制手段的场所. 定义： 管制图:P-CHART，U-CHART，Xbar-R，TREND CHART. DPPM ( Defect Part Per Million ):白万分之不良率管制图. CpK ( Integrated capability index ):珠合制程能力指数. USL-LSL Xbar - *100% TOC \o 1-5 \h \z Cp= — 6 B = T/2 CpK= min (CpU，CpL} _ USL-Xbar 或 Xbar-LSL 3、. 3、. 公式中： =标准差.T =USL-LSL， p =规格中心值 Xbar = 平均值. USL =规格上限 LSL =规格下限. QE ( Quality Engineering ):质量工程. IQC ( Incoming Quality Control ):进料检验. IPQC ( In-Process Quality Control ):制程检验. MFG ( Manuf