《CDI相干衍射成像综述报告》.pptVIP

单次曝光PIE方法 单次曝光PIE方法 成像误差函数 经过800次迭代后误差变为0.007 ? 单次曝光PIE方法 飞扫（Fly-scan ptychography） 标准ptychography是分段扫描，在获取数据之前，需要样品移动完成并且固定在指定位子。这个分段扫描花费的时间步进电机每个像素100ms，压电马达每个像素20ms，最终整个数据获取会积累成一个很大的数字。 对于器材的稳定性和样本的稳定性提出很高要求 飞扫原理：样品沿着快速扫描方向连续的移动，探测器与样本同步移动相同的距离，运用动态成像ptychography的方法进行处理可以重建样品结构。 飞扫（Fly-scan ptychography） 远场衍射强度是由单色和相干光源照射在静止的样品上，j代表位置，则有： 若是部分相干光源，则把光源看做互相不相干的相干光源的叠加，则有： 若是飞扫模式中，衍射强度来自于一个连续移动的样品，则有： 飞扫（Fly-scan ptychography） 扫描轨迹： 成像光斑 重建结果 相位信息决定重建结果 CDI相干衍射成像综述报告 相干衍射成像原理 一束相干衍射光照射样品，利用X射线探测器收集样品在远场处的相干衍射图样，通过过度取样和迭代算法对衍射图样进行相位恢复和图像重建 发展历程 相干X射线衍射成像在X射线晶体学的基础上发展而来。 1952年，sayre在shannon晶体采样理论的基础上提出，如果可以记录晶体bragg衍射斑之间的信号强度，也许会有足够的信息来直接解析晶体的衍射图样。 1980年，sayre指出非周期性独立样品的相干衍射图样是连续的，不受bragg衍射斑的限制，可以获得足够的信息，X射线晶体学的衍射理论同样适用于解析非周期性独立样品的结构。 1999年，miao首次在实验上实现相干衍射成像。高亮度的相干衍射光源是CDI实验的保证。 目前，CDI在物理学，生物学，材料学方面得到广泛利用。 优势 CDI成像过程不使用任何X射线聚焦元件，摆脱了X射线聚焦元件对于成像分辨率的限制。 X射线与样品的作用是X射线样品电子的作用，记录的样品衍射图样反映了样品的电子密度。使得对样品成分的定量分析成为可能。 CDI可以同时提供样品的强度和相位衬度图像，在自然状态下实现高衬度定量成像。 CDI可以与多种X射线相结合，如X射线近边吸收，X射线荧光技术等，在获得高分辨图像的同时也可以实现元素的特异性成像。 存在的问题 成像系统中由于使用了直射光遮光板，会导致中心数据丢失，需要使用STXM的成像结果来补充 几种CDI成像方法原理 平面波CDI成像：原理简单，对设备稳定性要求较低。样品必须处于光束范围内，限制了样品尺寸 扫描CDI成像：图像重建的收敛速度更快，重建结果更好，样品尺寸不受限制。对设备稳定性要求较高，样品的震动对成像结果影响明显。 菲涅尔CDI成像：光路系统中不需要直射光遮光器，相位恢复和重建收敛速度快，样品尺寸不受限制。对设备稳定性要求高，对震动敏感。 BraggCDI成像：主要用于研究纳米晶体。 相位问题 ? 相位问题 对于CDI成像，根据夫琅禾费近似条件，样品远场处的衍射图样为其电子密度的傅里叶变换。 而探测器记录的衍射图样只是其强度信息，根据 对CCD探测衍射强度的反傅里叶变换为样品电子密度的自相关函数。所得 结果尺寸为样品各维度的2倍。 相位信息决定重建结果 相位恢复 相位恢复 过采样理论 迭代算法 HIO算法 GHIO算法 ER算法 G-S迭代算法 过采样理论 a:Nyquist频率取样的衍射图样 b:对应a图的实空间样品 c:4倍Nyquist频率取样的衍射图样 d:对应C图的实空间样品 过采样理论 ? 相位恢复算法基本流程 Gerchberg-Saxton算法 ER（Error-Reduction）HIO（Hybrid Input-Output） ER和HIO算法都在G-S迭代算法基础上发展而来，区别只是在实空间引入的限定条件不同，二者引入的是有限尺寸和正密度约束条件 ? 二者的限定条件分别为： 重建效果的评定 ? GHIO（Guide Hybrid Input-Output ） Ptychography/scanning CDI 江琦 6-28 Ptychography的发展背景 CDI概念在1970左右被提出，相位还原问题是CDI的核心问题，从最早的G-S算法，到Fineup改进的ER和HIO算法。但是ER和HIO算法都容易陷入局部最优解的陷阱，且传统CDI视场小，限制了样品尺寸。 为了解决以上问题，2004年Rodenburg提出了可扩展成像范围的相位恢复技术——PIE技术（Ptychographical