差模干扰与共模干扰的概念和开关电源EMI原理图详细概述.pdfVIP

差模干扰与共模干扰的概念和开关电源 EMI 原理图详细概述 要理解传导干扰测试，首先要清楚一个概念：差模干扰与共模干扰 。 差模干扰：存在于 L-N 线之间，电流从 L 进入，流过整流二极管正极，再流经负载，通 过热地，到整流二极管，再回到 N ，在这条通路上，有高速开关的大功率器件，有反向恢 复时间极短的二极管，这些器件产生的高频干扰，都会从整条回路流过，从而被接收机检 测到，导致传导超标。 共模干扰：共模干扰是因为大地与设备电缆之间存在寄生电容 ,高频干扰噪声会通过该寄生 电容，在大地与电缆之间产生共模电流，从而导致共模干扰。 下图为差模干扰引起的传 导 FALL 数据，该测试数据前端超标，为差模干扰引起： 下图为开关电源 EMI 原理部分： 图中 CX2001 为安规薄膜电容 （当电容被击穿或损坏时， 表现为开路） 其跨在 L 线与 N 线 之间，当 L-N 之间的电流，流经负载时，会将高频杂波带到回路当中。此时 X 电容的作 用就是在负载与 X 电容之间形成一条回路， 使的高频分流， 在该回路中消耗掉， 而不会进 入市电， 即通过电容的短路交流电让干扰有回路不串到外部。 对差模干扰的整改对策： 1. 增大 X 电容容值； 2. 增大共模电感感量，利用其漏感，抑制差模噪声（因为共模电感几 种绕线方式， 双线并绕或双线分开绕制， 不管哪种绕法， 由于绕制不紧密， 线长等的差异， 肯定会出现漏磁现象， 即一边线圈产生的磁力线不能完全通过另一线圈， 这使得 L-N 线之 间有感应电动势， 相当于在 L-N 之间串联了一个电感） 下图为共模干扰测试 FALL 数据： 电源线缆与大地之间的寄生电容，使得共模干扰有了回路，干扰噪声通过该电容，流向大 地，在 LISN- 线缆 - 寄生电容 -地之间形成共模干扰电流，从而被接收机检测到，导致传导 超标（这也可以解释为什么有的主板传导测试时，不接地通过，一夹地线就超标。 USB 模 式下不接地时， 电流回路只能通过 L- 二极管 -负载- 热地 -二极管 -N,共模电流不能回到 LISN ， LISN 检测到的噪声较小，而当主板的冷地与大地直接相连时，线缆与大地之间有了回路， 此时若共模噪声未被前端 LC 滤波电路吸收的话，就会导致传导超标） 对共模干扰的整 改对策： 1. 加大共模电感感量； 2. 调整 L-GND ，N-GND 上的 LC 滤波器， 滤掉共模噪声； 3.主板尽可能接地，减小对地阻抗，从而减小线缆与大地的寄生电容。