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基于离散半导体元件应力测试认证失效机理 内容列表 AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证失效机理 附录1: 认证家族定义 附录2: Q101 设计、构架及认证证实 附录3: 认证计划 附录4: 数据表示格式 附录5: 最小参数测试要求 附录6: 邦线测试塑封开启 附录7: AEC-Q101和健壮性验证关系指南 附件 AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (废止) AEC-Q101-003: 邦线切应力测试 AEC-Q101-004: 同时性测试方法 AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型 AEC-Q101-006: 12V系统灵敏功率设备短路可靠性描述 感谢 任何包含到复杂技术文件全部来自于各个方面经验和技能。为此汽车电子委员会由衷认可并感谢以下对该版文件有重大贡献人： 固定会员: Rick Forster Continental Corporation Mark A. Kelly Delphi Corporation Drew Hoffman Gentex Corporation Steve Sibrel Harman Gary Fisher Johnson Controls Eric Honosowetz Lear Corporation 技术组员: James Molyneaux Analog Devices Joe Fazio Fairchild Semiconductor Nick Lycoudes Freescale Werner Kanert Infineon Scott Daniels International Rectifier Mike Buzinski Microchip Bob Knoell NXP Semiconductors Zhongning Liang NXP Semiconductors Mark Gabrielle ON Semiconductor Tom Siegel Renesas Technology Tony Walsh Renesas Technology Bassel Atallah STMicroelectronics Arthur Chiang Vishay Ted Krueger [Q101 Team Leader]Vishay 其它支持者: John Schlais Continental Corporation John Timms Continental Corporation Dennis L. Cerney International Rectifier Rene Rongen NXP Semiconductors Thomas Hough Renesas Technology Thomas Stich Renesas Technology 本文件是专门纪念： Ted Krueger (1955-) Mark Gabrielle (1957-) 注意事项 AEC文件中材料全部是经过AEC技术委员会准备、评定和同意。 AEC文件是为了服务于汽车电子工业，不管其标准是用在中国还是国际上，全部可排除器件制造商和采购商之间方面不一致性，推进产品提升和可交换性，还能帮助采购商在最小时间耽搁内选择和取得那些非AEC组员适宜产品。 AEC文件并不关注其采纳内容是否包含到专利、文章、材料或工艺。AEC没有认为对专利拥有者负担责任，也没有认为要对任何采取AEC文件者负担义务。汽车电子系统制造商见解关键是AEC文件里信息能为产品说明和应用提供一个很完美方法。假如所陈说要求在本文件中不存在，就不能声称和本文件