spc统计过程控制ppt 93页).pptVIP

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过程能力 受控且有能力符合规范 (普通原因造成的变差已减少) 规范下限 规范上限 时间 范围 受控但没有能力符合规范 (普通原因造成的变差太大) 过程能力指数 1 对于双侧公差情况,过程能力指数Cp的定义如下: 式中,T为技术公差的幅度,σ为质量特性值分布的总体标准差。 过程能力指数 2 单侧公差情况的过程能力指数 (μ<TU) (μ>TL) 过程能力指数 3 在过程能力指数计算公式中,T反映对产品的技术要求, σ反映加工过程中的一致性,所以在过程能力指数中将6σ与T比较,就反映过程加工质量满足产品技术要求的程度。 CP值越大,表明加工质量越高,但对设备和操作人员要求也高,加工成本也越大,所以对于CP值的选择根据技术与经济的综合分析来决定。通常取CP>1,国标GB/T 4091-2001要求CP>1.33 过程能力指数 4 有偏移情况的过程能力指数 : 当产品质量特性值分布的均值μ与公差中心M不重合即有偏移时,不合格品率必然增大,CP值降低,故以上计算值须修正。记修正后的过程能力指数为CPK,公式为: 其中: 过程性能指数 过程性能指数即长期过程能力指数。用PPK 表示。其计算方法与CPK公式一样。区别为过程性能指数不需要在稳态下计算。这样更能反映真实的过程。 前者σ用 或 估算 ,而后者则用s计算出来。 各类常规控制图使用场合 1 X – R 控制图,对于计量数据而言,这是最常用最基本的控制图。用于控制的对象有长度、重量、强度、时间等计量值的场合。 X – s 控制图,与以上相近,只是用标准差s代替极差R。当样本量n>10时,用极差来估计总体标准差效率降低,需要用S图来代替R图。 概率基础知识—标准正态分布 在正态分布概率密度函数中,μ为正态分布的均值,σ为正态分布的标准差。当μ=0且σ=1时,正态分布称为标准正态分布。记为N(0,1)。 正态分布的计算可以转化为标准正态分布来计算: 设X~N(μ,σ2), 则 ~N(0,1) 概率基础知识—中心极限定理 定理1 :设X1,X2,…Xn是n个相互独立同分布的随机变量,假如其共同分布为正态分布N(μ,σ2),则样本的均值X仍为正态分布,其均值仍为μ,方差 定理2(中心极限定理):设X1,X2,…Xn是n个相互独立同分布的随机变量,其共同分布为非正态分布或未知,但其均值μ和方差σ2都存在,则当n足够大时,样本的均值X仍为正态分布均值仍为μ,方差 统计基础知识—总体与个体 在一个统计问题中称研究对象的全体为总体,构成总体的每个成员称位个体,总体就是某数量指标X的全体(即一堆数),这一对数有一个分布,从而总体可以用一个分布描述。统计学的任务就是: 研究总体是什么分布? 这个总体(即分布)的均值、方差(或标准差)是多少? 统计基础知识—样本 从总体中抽取部分个体所组成的集合称为样本。样本钟的个体有时也称为样品,样本中所包含的个体的个数称为样本量,常用n表示。满足下面两个条件的样本称为随机样本。 随机性。总体中每个个体都有相同的机会入样。

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