JF-QIGG-013X射线探伤机期间核查规程D0.docxVIP

Ｘ射线探伤机期间核查规程 （文件编号： JF-QIGG-013 ） 共1页 第1页 版本 / 版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则 1.1 X 射线探伤机在正常使用期间， X 光管会随着使用时间增加其技术性能也会逐渐降低， 所以对使用中的 X 射线探伤机应经常定期进行技术性能测试，以调整曝光参数，保证拍 片的质量是非常必要的。 1.2 曝光曲线测试是 X 射线探伤机技术性能的一种实用性方法，曝光曲线可以根据 X 射 线管在不同的使用时间，准确调整曝光量与透照厚度的关系。 2.检验步骤 2.1 根据仪器的实用情况固定如下条件： 2.1.1 确定 X 射线胶片类型、增感方式及确定暗室冲洗胶片条件。 2.1.2 确定被测仪器的管电流、焦距、曝光时间和底片黑度值。 2.1.3 根据探伤机的透照厚度范围，选择阶梯试块厚度。 2.2 透照： 2.2.1 将探伤机的焦点对准试块中心。 2.2.2 从探伤机 KV 值的低端向高端以相等的递增量拍片 8 张以上。 2.3 暗室处理： 2.3.1 将上述曝光的一套胶片，按以固定的暗室处理条件，同时一次进行冲洗，经充分水 洗后晾干。 2.4 底片黑度的测定： 2.4.1 用黑度计测定底片上每一厚度对应的黑度值，每一黑度值测三次取其平均值为该厚 度的黑度值。 2.4.2 将每张底片中不同厚度所对应的黑度值填入《底片黑