数字电子技术基础实验...docxVIP

实验报告要求 实验题目 实验时间、地点 （实验报告纸上面的抬头都要填写清楚） 实验要求（目的） 实验器材 实验原理 实验步骤 （包含电路设计图） 实验记录 结果分析 （分析所得到的实验结果，与理论上的结果相比较，是否正确验 证了理论的正确性，如果结果不符，问题出在哪里，应如何解决） 实验体会（本次实验中的收获、 遇到的问题及解决方法， 以及个人的体会） 思考题（ 对本次实验的深入扩展） 实验一 TTL 门电路逻辑功能测试 实验时间 ： 实验时数 ：2 学时 实验目的 ： 1．熟悉数字电路实验箱的工作原理； 2．掌握数字电路实验箱使用的方法，及数字电路实验的基本步骤； 3．掌握门电路逻辑功能的测试方法； 实验器材： 1．数字逻辑实验箱、万用表 2．74LS00 二输入端四与非门 2 片 CC4011 二输入端四与非门 1 片 3．连接导线 若干 实验原理： (1) 74LS00 引脚图及逻辑功能： 1 CC4011 实验内容 ： 1．TTL 门电路——与非门 74LS00 逻辑功能测试。 Y=(AB) ’ 输入端接逻辑开关，输出端接指示灯，改变输入状态的同时观察输出状态， 并使用万用表测试输出端电压，自制表格来记录实验结果。如表 1-1。 表 1-1 输入 输出 A B Y 电压（V） 0 0 0 1 1 0 1 1 2．CMOS 门电路——与非门 CC4011 逻辑功能测试。 具体要求同实验 1。 2 3．逻辑电路的逻辑关系。 用 74LS00 按照下图连线，并以表格的形式记录输出结果，同时要求使用万用表测试输出端电压并记录。 4．用与非门组成异或门并加以验证。要求： 1）将异或门表达式转化为与非门表达式； 2）画出逻辑电路图； 3）用实验测试并用表格记录实验结果 。 思考题： TTL 门电路与 CMOS 门电路在使用过程中，闲置的输入端应如何处理？ 实验重点 ： 1．数字电路实验箱使用； 2．数字电路实验的基本操作步骤的掌握。 实验难点 ： TTL 门电路与 CMOS 门电路在使用上的区别，及需注意的事项。 3 实验二 SSI 组合逻辑电路 实验时间 ： 实验时数 ：2 学时 实验目的 ： 加深理解用 SSI（小规模数字集成电路）构成的组合逻辑电路的分析与设计方法。 实验器材： 1．数字实验箱 2．74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS54 四组输入与或非门（ 2-3-3-2 输入端） 1 片 74LS86 二输入端四异或门 2 片 实验原理： 组合逻辑电路是最常见的逻辑电路之一， 其特点是在任一时刻的输出信号仅取决于该时刻的输入信号，而与信号作用前电路原来所处的状态无关。 组合逻辑电路的设计步骤：根据逻辑电路图 ---写出逻辑表达式 ---化简逻辑表达式（公式法、卡诺图法） --- 画出逻辑真值表 ---分析得出逻辑电路解决的实际问题（逻辑功能）。 4 （1）74LS86 引脚图 （2）74LS54 引脚图 实验内容 ： 1、设计一个判断一位二进制数 A 与 B 大小的比较电路。要求： 1）画出逻辑图（用 L1、L2、L3 分别表示三种状态，即 L1（ AB ）， L2 AB ）， L3（A=B ））。 2）设 A 、B 分别接至数据开关， L1 、L2、L3 接至逻辑显示器（灯），将实验结果记入下表。 表 2-1 5 2、设计一个监视交通信号灯工作状态的逻辑电路。 图中用 R、Y、G分别表 示红、黄、绿三个灯的状态，并规定灯亮时为 1，不亮时为 0。用 L 表示故障信号，正常工作时 L 为 0，发生故障时 L 为 1。试分析 R、Y、G出现哪五种状态时，要求逻辑电路发出故障信号（ L 为 1）。 要求：画出逻辑图，按图接线，将结果记入下表。 表 2-2 3．用与非门、与或非门和异或门组成的全加器，如下图所示。要求：按图接线，验证理论分析结果，并将结果记录在表 2-3 。 Cn-1 =1 Sn =1 An Bn + C n 6 表 2-3 被加数 An 0 1 0 1 0 1 0 1 输入端 n 0 0 1 1 0 0 1 1 加数 B 低位进位 Cn-1 0 0 0 0 1 1 1 1 全加和 Sn 输出 进位 Cn 实验重点 ： 组合逻辑电路的分析与设计方法。 实验难点 ： 灵活运用各种小规模集成电路进行任意组合逻辑电路的设计实现。 7 实验三 MSI 组合逻辑电路 实验时间 ： 实验时数 ：2 学时 实验目的 ： 1、了解编码器、译码器、数据选择器等中规模数字集成电路（ MSI ）的性能及使用方法。 2、用集成译码器和数据选择器设计简单的逻辑函数产生器。 。 实验器材： 1．数字实验箱 2．74LS151 8 选 1 数据选择器 2 片 74LS138 3 线—8 线译码器 2 片 实验原理