材料分析测试方法复习题.docxVIP

一、选择题：（每题 2 分，共 30 分） 1. . 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后， L 层电子回迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将产生（ D）。 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （ A+C） 当电子把所有能量都转换为X 射线时，该 X 射线波长称（ A ） 短波限 λ 0； B. 激发限 λ k； C. 吸收限； D. 特征 X 射线 最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）。 劳厄法； B. 粉末多晶法； C. 周转晶体法； D. 德拜法。 有一倒易矢量为 g* =2a* +2b* +c* ，与它对应的正空间晶面是（ C）。 （ 210）； B. （ 220）；C. （ 221）； D. （110）；。 5. 透射电子显微镜中不可以消除的像差是（ A ）。 A ．球差 ；B. 像散 ； C. 色差； D 球差和像散 面心立方晶体（ 111）晶面族的多重性因素是（ B ）。 A ．4； B． 8； C． 6； D． 12。 下面分析方法中分辨率最高的是（C ）。 A. SEM B. TEM C. STM D AFM 8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。 背散射电子； B. 二次电子； C. 吸收电子； D. 透射电子。 9．透射电镜的两种主要功能：（ B ） A．表面形貌和晶体结构 B. 内部组织和晶体结构 C. 表面形貌和成分价键 D. 内部组织和成分价键 10． M层电子回迁到 K 层后，多余的能量放出的特征 X 射线称（ B ） A. K α； B. K β ； C. K γ ； D. L α 。 11. 德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ）。 A. 正装法； B. 反装法； C. 偏装法； D. A+B 。 12. 衍射仪法中的试样形状是（ B）。 A. 丝状粉末多晶； B. 块状粉末多晶； C. 块状单晶； D. 任意形状。 选区光栏在 TEM镜筒中的位置是（ B ）。 A. 物镜的物平面； B. 物镜的像平面 C. 物镜的背焦面； D. 物镜的前焦面。 14. 单晶体电子衍射花样是（ A）。 A. 规则的平行四边形斑点； B. 同心圆环； C. 晕环； D. 不规则斑点。 15. 在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（ D）。 A. 和电子束垂直的表面； B. 和电子束成 30o的表面； C. 和电子束成 45o的表面； D. 和电子束成 60o的表面。 二、填空题：（每空 1 分，共 10 分） 1. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。 2. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和 偏装 三种。 3. 产生衍射的必要条件是 满足布拉格方程 ，充分条件是 衍射强度不等于 0 。 4. 当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱 X 射线和 特征谱 X 射线。 运动学理论的两个基本假设是双光束近似和柱体近似。 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 今天复型技术主要应用于萃取复型 方法来揭取第二相微小颗粒进行分析。 第 1页共 4页 三、判断题：（10 分） 1. 晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。 （×） 实际电镜样品的厚度很小时 ,能近似满足衍衬运动学理论的条件 ,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（√ ） 3. 电子衍射和 X 射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。 （ × ） 透镜的数值孔径与折射率有关。（ √ ） 倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ √ ） 6. 产生特征 X 射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。 （ √） 7. TEM 的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。 （√） 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×） 透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（ × ） 德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。 （×） 四、计算题：（10 分） CuK 辐射（ λ =0.154 nm ）照射 Ag（ f.c.c ）样品，测得第一衍射峰位置2θ =38°，试求 α Ag 的点阵常数。 答： 由 sin 2 =λ2（H2+K2 +L2）/4a 2 （3 分） ( H 2 K 2 L2 ) （2 分） 可得 a sin19=0.32556 2 sin 查表由 Ag 面心立方得第一衍射峰为（ 111），（h2+k2+l 2）=3，（3 分） 所以代入数据 2θ=38°，解得点阵常数 a=0.41nm。（2 分） 五、简答题 (4 分+6 分+4分